[实用新型]一种通用数字集成电路测试仪

说明书

本实用新型公开了一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述待测芯片插座分为14脚插座、16脚插座及20脚插座，所述的单片机为STC12C5A60S2单片机，所述的测试仪还包括发光二极管，所述发光二极管设置两组，一组为红色一组为绿色，所述的单片机还包括RS232通讯单元，所述的RS232通讯单元与电脑的9针串口相连接。所述的显示屏上设置1602LCD接口，所述的键盘使用HD7279A芯片与单片机连接，所述的键盘为4*4按键阵列。本实用新型利用单片机内置的测试程序对芯片进行测试，工作人员仅需要插上芯片及输入芯片型号便可对芯片进行准确的测试，工作量小，测试效率高。

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，具体的说，是一种对集成电路进行测试的测试仪。

背景技术

74系列TTL集成电路和4000系列CMOS电路是很常用的数字集成电路，特别是在高校的电子技术实验实训中大量使用，但是由于学生使用不当或者违规操作等，这些集成电路可能会发生损坏，每次实验结束，老师需要对用过的集成电路进行测试，清除损坏的芯片，工作量很大，实验室需要配备一种快速数字集成电路测试仪，以提高工作效率，降低相应工作量。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种可有效减轻工作人员负担的数字集成电路测试仪。

本实用新型采用如下技术手段实现：一种通用数字集成电路测试仪，包括单片机、键盘、待测芯片插座及显示屏，所述的单片机与待测芯片插座、键盘及显示屏连接，所述单片机根据键盘输入的待测芯片型号调用对应的测试程序对待测芯片插座上设置的芯片进行测试，并将结果显示在显示屏上，红绿发光二极管指示灯提示芯片正常或者故障，测试结果同时发送给电脑。

所述待测芯片插座分为14脚插座、16脚插座及20脚插座，所述的待测芯片插座的管脚与单片机的P1.0~P1.7、P2.0~P2.7以及P3.2、P3.3连接。

所述的单片机为STC12C5A60S2单片机，所述的测试仪还包括发光二极管，所述发光二极管设置两组，一组为红色一组为绿色，所述的发光二极管与单片机的P4.0、P4.2管脚连接。

所述的单片机还包括RS232通讯单元，所述的RS232通讯单元与电脑的9针串口相连接。

所述的显示屏上设置1602LCD接口，所述1602LCD接口的DD0~DD7为数据总线，与单片机的P0.0~P0.7相连；RS、RW、E为控制端，与单片机的P3.4~P3.6相连，所述显示屏可以显示16*2个字符。

所述的键盘使用HD7279A芯片与单片机连接，HD7279A通过CS、DAT、KEY、CLK与单片机的P5.0~P5.3相连，与单片机之间传递数据和指令，所述的键盘为4*4按键阵列，其包括0~9数字键、以及确认键、重复键、清除键、数据发送键、光标下移键、光标上移键共16个按键。

本实用新型利用单片机内置的测试程序对芯片进行测试，工作人员仅需要插上芯片及输入芯片型号便可对芯片进行准确的测试，工作量小，测试效率高。

附图说明

图1为本实用新型组成框图；

图2为本实用新型14脚插座示意图；

图3为本实用新型16脚插座示意图；

图4为本实用新型20脚插座示意图；

图5为本实用新型单片机管脚示意图；

图6为本实用新型1602LCD接口管脚示意图；

图7为本实用新型按键管脚示意图；

图8为本实用新型键盘智能控制芯片管脚示意图；

图9为本实用新型发光二极管管脚连接示意图。

具体实施方式