[实用新型]时钟信号测试装置

权利要求书

1.一种时钟信号测试装置，用于测试多个待测芯片的时钟信号，其特征在于，包括：

RCC时钟信号控制器，具有时钟控制信号输出端口，所述时钟控制信号输出端口与所述多个待测芯片电连接；以及，

多通道信号测试器，具有时钟信号输入端口以及时钟数据输出端口，所述时钟信号输入端口与所述多个待测芯片电连接，且所述时钟信号输入端口为一时钟信号分频获取端口。

2.根据权利要求1所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述多通道信号测试器还包括多通道输入捕获器，所述时钟信号输入端口设置于所述多通道输入捕获器上，且所述多通道输入捕获器为时钟信号采集器。

3.根据权利要求2所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述多通道信号测试器还包括采样器，具有待采样信号输入端口，所述待采样信号输入端口与所述多通道输入捕获器电连接，且所述时钟数据输出端口设置于所述采样器上。

4.根据权利要求3所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述多通道输入捕获器包括采样频率控制器，具有采样频率控制信号输出端口，所述采样频率控制信号输出端口与所述采样器电连接。

5.根据权利要求3所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述多通道信号测试器还包括滤波器，具有待滤波信号输入端口，所述待滤波信号输入端口与所述采样信号输出端口电连接。

6.根据权利要求5所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述时钟信号测试装置还包括自动化测试设备，所述自动化测试设备与多个所述多通道信号测试器电连接，所述多通道信号测试器还包括uART接口，设置于所述滤波器上，所述uART接口为测试结果发送端口，所述uART接口与所述自动化测试设备电连接。

7.根据权利要求1所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述待测芯片为MCU芯片，所述待测芯片包括RCC装置，所述时钟信号为所述RCC装置的模拟输出信号。

8.根据权利要求7所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述RCC时钟信号控制器与所述RCC装置电连接。

9.根据权利要求7所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述RCC装置包括内部高速时钟以及内部低速时钟。

10.根据权利要求1所述的时钟信号测试装置，其特征在于，所述RCC时钟信号控制器具有配置完成通知端口，所述多通道信号测试器具有配置完成接收端口，所述配置完成通知端口与所述配置完成接收端口电连接。