[实用新型]一种反电势检测结构

说明书

本实用新型公开一种反电势的检测方法，用来检测电机三相线的反电动势，所述反电势检测结构包括分压电路、RC滤波电路和钳位电路,所述分压电路分别连接在电机的R、G、B三相线，所述RC滤波电路连接在所述分压电路的输出端，所述钳位电路的连接至所述滤波电路的输出端和电源VCC之间,所述反电势结构还包括采样芯片MCU，所述采样芯片MCU连接至所述RC滤波电路的输出端。通过使用较少的元器件及MCU管脚，成本降低；同时减少ADC采样口数量，避免因采样排列导致的采样延迟，使采样更加精准可控，减少实验误差。

技术领域

本实用新型专利技术公开了一种反电势检测结构。

背景技术

传统的反电势检测结构是对电机每相的反电势分别进行采样，并基于反电势信号来决定何时对电机绕组换相。此检测方法电路中的元器件比较多，有些控制板受结构的影响大，尺寸被局限在很小的范围内，这样就给设计者带来很大的困扰；MCU需要对电机三相信号都要采集，占用MCU管脚较多，设计者可能会面对着要更换管脚更多的MCU芯片，导致空间和成本的增加。另外MCU需要对电机三相的反电势都要采样检测再加上其它的ADC，就会涉及到更多的ADC先后排列问题，靠后的ADC就会有延迟，容易采样到噪音，产生不必要的误差。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种反电势的检测结构，用来检测电机三相线的反电动势，通过使用较少的元器件及MCU管脚，成本降低；同时减少ADC采样口数量，避免因采样排列导致的采样延迟，使采样更加精准可控，减少实验误差。

减少芯片的使用量和管脚量，为实验其他功能预留管脚位置，测量误差。

为实现上述目的，本实用新型采用的结构如下：

进一步的，所述反电势检测结构包括分压电路、RC滤波电路和钳位电路,所述分压电路分别连接在电机的R、G、B三相线，所述RC滤波电路连接在所述分压电路的输出端，所述钳位电路连接在滤波电路的输出端和电源VCC之间,所述反电势结构还包括采样芯片MCU，所述采样芯片MCU连接至所述RC滤波电路的输出端。

进一步的，所述分压电路包括并联电阻R10和R11以及和电阻R10和R11 连接的并联电阻R1、R4和R7，所述并联电阻R1、R4和R7分别连接至电机的B、 G、R三相线，将逆变输出的三相电通过电阻分压降低到MCU可采样的范围内。

进一步的，所述RC滤波电路包括至少一个电阻R13和电容C2,所述的电阻R13和所述的电容C2并联，用于滤除噪音。

进一步的，所述钳位电路包括至少一个二极管D1,所述的二极管D1连接在电源VCC和所述RC滤波电路之间，防止在异常发生时芯片口电压过高导致MCU 损坏。

进一步的，所述采样芯片包括至少一个采样端，所述采样端连接至所述RC 滤波电路的输出端。

本实用新型具有如下有益效果：(1)本设计使用较少的元器件及MCU管脚，给编程方面提供便利、提高效率和准确度；(2)使用少量的ADC采样端口，避免因采样排列导致的采样延迟，减少不必要的误差，使采样更加精准可控；(3)减少阻容和二极管的使用同时有可能使用管脚更少的MCU，降低成本并使板子更加小型化，增加适配范围。

附图说明

图1为传统反电势检测结构的控制原理图。

图2为本实用新型反电势检测结构的控制原理图。

图3为采用本实用新型进行反电势检测时电机的六步梯形换相图。

具体实施方式

下面通过和传统反电势检测结构的对比和具体实施方法对本实用新型进一步说明：

如图1所示传统反电势检测结构的控制原理图，包括三相分压电路1、三相 RC滤波电路2、三相钳位电路3和MCU芯片。