[实用新型]一种一体化场均匀性校准信号发生装置有效

专利信息
申请号: 202022570246.6 申请日: 2020-11-09
公开(公告)号: CN213903613U 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 李绍鹏 申请(专利权)人: 甘特云科技(武汉)有限公司
主分类号: G01R1/28 分类号: G01R1/28;G01R35/00
代理公司: 武汉尚智联合知识产权代理有限公司 42280 代理人: 熊军
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 一体化 均匀 校准 信号 发生 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种一体化场均匀性校准信号发生装置,包含电源模块、主控模块、顺次连接的射频信号发生模块、功率放大模块和定向耦合器,主控模块用于控制射频信号发生模块输出射频信号,功率放大模块接收不同频段的射频信号放大后输出至定向耦合器;功率放大模块包括多个不同频段的放大电路;每个放大电路均包含有电压增益级和功率放大级,电压增益级用于放大信号幅度后输出到功率放大级;每个放大电路信号输入端和输出端分别连接有射频通道切换单元,两个射频通道切换单元接收主控模块指令来控制其中一个放大电路通道与定向耦合器连接。本实用新型能够用于各种场地均匀性校准测试,方便运输携带。

技术领域

本实用新型属于电磁场测试技术领域,特别涉及一种一体化场均匀性校准信号发生装置。

背景技术

随着无线电技术的广泛应用与不断发展,各种无线电设备的不断涌出,使得设备之间的干扰越来越严重。同时,电子技术与计算机技术的不断提高,系统的集成度越来越高,电子设备的频带日益加宽,灵敏度提高,设备间的电缆网络变得越来越复杂,因此,为了使设备能够正常工作,必须对设备的抗干扰性能进行评估,这就需要对设备进行电磁场的辐射抗干扰性实验。半电波暗室是进行辐射抗干扰性试验的主要场地,而场均匀性作为衡量实验场地性能的重要指标,是保证实验有效进行下去的关键,也是保证EUT在试验中测试结果的可靠性和重复性的关键。故对半电波暗室中场均匀性进行测试评估是非常重要的。

为了评估电子设备抗射频电磁场干扰的能力,需要在干净的电磁环境中产生均匀的射频电场对电子设备进行干扰测试。为了使此测试的结果有效且可重复性好,国际上制定了相应的标准,并描述了场均匀性校准的方法。

场均匀性校准的一般方法是依据IEC 61000-4-3(对应国标GB/T 17626.3)在规定频段内对1.5m*1.5m的一个垂直面进行场均匀性测试。将此垂直面按照一定的间距划分为多个测试点位,场强探头依次放置在每个点位上进行场强测量;测量期间通过计算机控制调整信号源输出幅度以获得一定的前向功率或者场强值;最后通过比较各点位数据的差异来评估场均匀性。

授权公告号:CN205608094U公开了一种半电波暗室场均匀性测试装置,包括半电波暗室和控制室,控制室位于半电波暗室外,且半电波暗室和控制室互为独立空间,半电波暗室内设置有发射天线和全向场探头,且发射天线和全向场探头之间的地上铺设有吸波材料;控制室内设置有信号发生器,信号发生器依次连接有功率放大器和定向耦合器,定向耦合器通过射频电缆连接位于半电波暗室内的发射天线。能够对不同尺寸的半电波暗室进行场均匀性的测试。

目前,场均匀性校准使用独立的多台仪器产生信号,通常包含射频信号源、多台不同频率段的功率放大器、射频开关、不同频率段的定向耦合器以及连接这些仪器端口之间的射频线缆。设备数量多,成本高,不方便运输携带。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术缺点,提供一种一体化的便于运输携带的场均匀性校准信号发生装置。

为实现上述目的,本实用新型采用下述技术方案:

一种一体化场均匀性校准信号发生装置,包含电源模块、主控模块、顺次连接的射频信号发生模块、功率放大模块和定向耦合器,其特征在于:所述主控模块用于控制射频信号发生模块输出射频信号,功率放大模块接收不同频段的射频信号放大后输出至定向耦合器;

所述功率放大模块包括多个不同频段的放大电路;每个放大电路均包含有电压增益级和功率放大级,电压增益级用于放大信号幅度后输出到功率放大级;每个放大电路信号输入端和输出端分别连接有射频通道切换单元,两个射频通道切换单元接收主控模块指令来控制其中一个放大电路通道与定向耦合器连接。

如上所述的一体化场均匀性校准信号发生装置,其特征在于:所述定向耦合器的前向和反向耦合端与主控模块之间分别设置有功率计,两个功率计分别用于对输出信号的前向功率与反向功率进行测量。

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