[实用新型]免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具及装置

权利要求书

1.一种免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：包括夹具本体，所述夹具本体具有第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述第一侧面和第二侧面相互垂直，所述第一侧面正对所述第三侧面设置，所述第二侧面正对所述第四侧面设置，所述夹具本体设有多个间隔分布的通孔，所述通孔供薄膜电容的pin脚穿过，所述通孔贯通设置于所述第一侧面和第三侧面之间，所述夹具本体还设有多个间隔分布的螺纹孔，所述螺纹孔与所述通孔相互连通，所述螺纹孔的顶部位于所述第二侧面上，所述螺纹孔沿垂直于所述通孔的轴线的方向延伸且所述螺纹孔的底部位于所述夹具本体内，所述螺纹孔内装配有螺丝，所述螺丝用于抵紧位于通孔内的薄膜电容的pin脚。

2.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述夹具本体呈长条形板块状。

3.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述通孔的横截面呈方形。

4.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述夹具本体为导体。

5.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述夹具本体为镀锡黄铜夹具。

6.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述薄膜电容为盒装电容，各所述通孔的间距与所述盒装电容中各薄膜电容的pin脚之间的间距相同。

7.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述第一侧面和第二侧面相互平行，所述第三侧面和第四侧面相互平行。

8.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述通孔沿垂直于所述第一侧面所在平面的方向延伸。

9.根据权利要求1所述的免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具，其特征在于：所述螺丝为M2.5内六角螺丝。

10.一种免焊接可批量测试的薄膜电容试验夹具装置，其特征在于：包括至少两组权利要求1-9中任一项所述的薄膜电容试验夹具，所述薄膜电容试验夹具两两之间相互平行且分别正对同一薄膜电容的两侧。