[实用新型]一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头

说明书

本实用新型提供一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，其包括第一外导体、第二外导体、法兰、复位弹簧、接触头和针轴，所述复位弹簧套设于第一外导体上，所述复位弹簧的底端安装有第二外导体，所述法兰上端套设于第一外导体上位于复位弹簧的外侧，所述法兰下端套设于第二外导体上，所述第二外导体底部安装有接触头，所述针轴底端位于接触头下侧，所述法兰底端的内侧设有向内凸起的导正凸台，所述法兰上端与所述第一外导体上端设有斜坡结构。本技术方案，其可有效解决现有射频测试头由于中心针轴部分与天线测试系统对位不正，导致中心针轴变形，中心针轴部分的使用寿命不长，中心针轴每次回位的一致性低，误测率高的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及射频测试头技术领域，特别涉及一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头。

背景技术

随着无线通信系统的发展，天线系统是不可或缺的部分。然而，随着5G技术的发展，有限的空间内，随着工作频率的提高和射频天线数量的增加，天线系统无论在体积，还是性能上的要求越来越高，为此也要求射频测试头在越来越局促的空间中，对于射频测试头自动适配能力提出了更高的要求，同时，当射频测试头测试完毕，恢复原位的重复性要求更加严格，以便于自动产线下一个产品的精准测试。目前市面上的天线测试系统的射频测试头无自动适配结构的射频测试头，没有自动适配或者适配结构不合理的射频测试头，中心针部分需要承担绝大部分的导向功能，中心针势必会出现较为严重的变形情况，大大降低了产品寿命，中心针轴每次回位的一致性低，误测率高。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提出一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，旨在解决现有解决现有射频测试头由于中心针轴部分与天线测试系统对位不正，导致中心针轴变形，中心针轴部分的使用寿命不长，中心针轴每次回位的一致性低，误测率高的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供的一种自动适配结构的天线测试系统射频测试头，包括第一外导体、第二外导体、法兰、复位弹簧、接触头和针轴，所述复位弹簧套设于第一外导体上，所述复位弹簧的底端安装有第二外导体，所述法兰上端套设于第一外导体上位于复位弹簧的外侧，所述法兰下端套设于第二外导体上，所述第二外导体底部安装有接触头，所述针轴底端位于接触头下侧，所述法兰底端的内侧设有向内凸起的导正凸台，所述法兰上端与所述第一外导体上端设有斜坡结构。

进一步地，所述斜坡结构包括第一外导体斜坡和法兰斜坡，所述第一外导体斜坡与所述法兰斜坡相匹配。

进一步地，所述第一外导体斜坡位于第一外导体的上端，由第一外导体上端向外延伸与竖直方向形成一定夹角的第一外导体斜坡；所述法兰斜坡位于法兰上侧内表面处，由法兰上侧内表面与竖直方向形成一定夹角的法兰斜坡。

进一步地，所述第一外导体上端向外延伸与竖直方向形成的夹角度数等于法兰上侧内表面与竖直方向形成的夹角度数，夹角度数范围为10°到75°之间。

进一步地，所述第二外导体包括第二外导体上端和第二外导体下端，第二外导体上端位于在未工作状态下所述法兰内部，从复位弹簧连接处延伸至法兰的导正凸台上端，第二外导体下端位于导正凸台的下侧，第二外导体上端直径大于第二外导体下端直径，第二外导体上端与第二外导体下端相接处的凸出部分与导正凸台相接。

进一步地，所述导正凸台位于法兰下侧内表面与第二外导体上端的底部相接，与法兰为一体式结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、使用这种新型结构，不仅降低测试治具的制作要求，也减少了天线测试系统的辅助机构，从而降低了天线系统的测试成本。

2、保证了中心针轴每次回位的一致性，降低误测率，提高测系统的稼动率。

3、改善了由于中心针轴部分与天线测试系统对位不正，导致的变形，提高了中心针轴部分的使用寿命，从而降低了天线系统的测试成本。

附图说明