[实用新型]上睑下垂测量器有效
| 申请号： | 202022057876.3 | 申请日： | 2020-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN213758185U | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 齐心竹 | 申请（专利权）人： | 齐心竹 |
| 主分类号： | A61B3/107 | 分类号： | A61B3/107;A61B3/10;A61F9/007 |
| 代理公司： | 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 | 代理人： | 韩登营 |
| 地址： | 200002 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 下垂 测量器 | ||
【权利要求书】：
1.一种上睑下垂测量器，其特征在于，其包括能够覆盖在眼球上的半球壳状的角膜保护罩，所述角膜保护罩由透明材料制成，
在所述角膜保护罩上设有多个同心圆形式的刻度圈。
2.如权利要求1所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述角膜保护罩由硅胶材料制成。
3.如权利要求1或2所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述角膜保护罩的直径为16-24mm。
4.如权利要求3所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述角膜保护罩的直径为20mm。
5.如权利要求1或2所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述多个同心圆形式的刻度圈包括位于中心侧的圆心刻度圈与位于所述圆心刻度圈外周侧的外围刻度圈，所述圆心刻度圈的直径为2-5mm。
6.如权利要求5所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述圆心刻度圈的直径为4mm。
7.如权利要求1或2所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述多个刻度圈的间隔距离为0.5-2mm。
8.如权利要求7所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述多个刻度圈的间隔距离为1mm。
9.如权利要求1或2所述的上睑下垂测量器，其特征在于，所述多个刻度圈设在所述角膜保护罩的上表面。
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