[实用新型]适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构

说明书

本实用新型公开一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，包括插座面板、插头和线束，插座面板固定在处理器背板上，插头与插座面板插接，在插座面板的两侧设置有若干定位凹槽，线束通过压接套固定在插头上，在插头下表面设置有与定位凹槽位置对应的定位柱。本实用新型在进行接口安装时，先进行快速的定位，使插头和插座面板进行全完契合，然后拧紧螺丝即可；本实用新型的插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下，不会发生折弯和松动现象，且设置的压接套牢固的将线束固定在插头上，不容易产生松动，从而不影响数据传输。

技术领域

本实用新型属于半导体测试技术领域，具体涉及一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构。

背景技术

在半导体测试领域广泛使用PP Handler设备，例如EPSON NS8000系列集成电路测试处理器，NS8000系列普遍使用通用接口总线(General-Purpose Interface Bus，GPIB)进行通讯，该系列Handler GPIB接口接线后线束3会向下弯曲，接口处拉的比较紧，一段时间后接口处会有松动影响通讯，GPIB线长期拉紧并弯曲会导致使用寿命降低，且在安装时需要固定4个螺丝，使插头和面板准确插接，若定位不准，容易损坏接口的插针。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题：GPIB接口接线后线束3会向下弯曲，接口处拉紧受力，容易产生松动影响通讯，GPIB线长期拉紧并弯曲导致使用寿命降低，安装时定位不准，容易损坏接口的插针。

技术方案：为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案如下：

一种适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，包括插座面板、插头和线束，所述插座面板固定在处理器背板上，所述插头与插座面板插接，在所述插座面板的两侧设置有若干定位凹槽，所述线束通过一压接套固定在插头上，在所述插头下表面设置有与定位凹槽位置对应的定位柱。

作为优选，所述插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下。

作为优选，所述压接套与出线口螺纹连接，在所述压接套上设置有供线束通过的通孔。

作为优选，所述出线口设置有内螺纹，所述压接套设置有外螺纹。

作为优选，在所述通孔内设置有橡胶圈。

作为优选，所述定位凹槽为铁制成的槽口，所述定位柱为磁铁制成，所述定位柱插入定位凹槽内。

作为优选，所述定位凹槽的开口处置为喇叭口形状。

作为优选，在所述插座面板的四角设置有螺纹孔，在所述插座面板的四角设置有螺丝安装孔。

有益效果：与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：

本实用新型的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构，在进行接口安装时，先进行快速的定位，使插头和插座面板进行全完契合，然后拧紧螺丝即可；本实用新型的插头的出线口开口向下，使线束的出线方向垂直向下，不会发生折弯和松动现象，且设置的压接套牢固的将线束固定在插头上，不容易产生松动，从而不影响数据传输。

附图说明

图1是本实用新型的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构处理器面板和插座面板示意图；

图2是本实用新型的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构插头的主视图；

图3是本实用新型的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构插头的侧视图；

图4是本实用新型的适用于IC测试处理器的GPIB接口安装结构压接套的结构示意图。

具体实施方式