[实用新型]一种电性能测试装置

说明书

本实用新型属于电容测试领域，具体涉及一种电性能测试装置，包括：测试架，设置在测试架上的第一电极测试台，设置在第一电极测试台上方可伸缩的第二电极顶针，以及设置在第一电极测试台上方可上下运动的导电吸嘴，所述第二电极顶针滑动穿设在测试架上；通过导电吸嘴可以用于抓取固定芯片电容器并与芯片电容器的其一电极板连接，其中第二电极顶针可伸缩的设置在第一电极测试台上方，当导电吸嘴向下运动时，碰到导电吸嘴的第二电极顶针会收缩并抵靠在导电吸嘴侧面，直至导电吸嘴上的芯片电容器的另一电极板的下端接触第一电极测试台形成测试回路，即可配合测试电路板对芯片电容器进行电性能测试，方便快捷，有效的缩短测试时间，提高测试效率。

技术领域

本实用新型属于电容测试领域，具体涉及一种电性能测试装置。

背景技术

芯片电容器在生产完成后，需要对其进行电性能检测，现有的电性能检测主要采用人工的方式放置到专用夹具上，再进行测试。人工进行测试耗费时间长，生产效率低。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电性能测试装置，以解决现有的人工进行芯片电容器电性能测试导致的生产时间长，生产效率低等问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种电性能测试装置，包括：测试架，设置在测试架上的第一电极测试台，设置在第一电极测试台上方可伸缩的第二电极顶针，以及设置在第一电极测试台上方可上下运动的导电吸嘴，所述第二电极顶针滑动穿设在测试架上；其中，所述导电吸嘴吸附抓取芯片电容器且与其一电极板连接并向下移动，依次完成导电吸嘴的侧面与第二电极顶针接触，以及芯片电容器作为另一电极板的下端与第一电极测试台接触，形成测试回路。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述电性能测试装置还包括分别与第一电极测试台和第二电极顶针连接的测试电路板。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述电性能测试装置还包括套设在第二电极顶针上的第一压缩弹簧，所述第一压缩弹簧一端连接测试架，另一端连接第二电极顶针。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述第二电极顶针上设置有用于安装第一压缩弹簧的挡圈，所述第一压缩弹簧一端连接测试架，另一端抵靠在第二电极顶针的挡圈上。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述导电吸嘴的截面为倒三角形。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述第二电极顶针与导电吸嘴接触的面为弧面。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述电性能测试装置还包括用于为第一电极测试台提供缓冲力的缓冲组件。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述缓冲组件包括：设置有缓冲腔的缓冲主体，沿缓冲腔上下运动的缓冲柱，以及连接缓冲腔的气管接头；所述缓冲柱与第一电极测试台连接。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述电性能测试装置还包括吸嘴安装头，滑动穿设在吸嘴安装头上的导电吸嘴导杆，所述导电吸嘴固定在导电吸嘴导杆的一端。

本实用新型的更进一步优选方案是：所述电性能测试装置还包括套设在导电吸嘴导杆上的第二压缩弹簧，所述第二压缩弹簧一端连接吸嘴安装头，另一端抵靠在导电吸嘴上。

本实用新型的有益效果在于，通过导电吸嘴可以用于抓取固定芯片电容器并与芯片电容器的其一电极板连接，其中第二电极顶针可伸缩的设置在第一电极测试台上方，当导电吸嘴向下运动时，碰到导电吸嘴的第二电极顶针会收缩并抵靠在导电吸嘴侧面，直至导电吸嘴上的芯片电容器的另一电极板的下端接触第一电极测试台形成测试回路，即可配合测试电路板对芯片电容器进行电性能测试，方便快捷，有效的缩短测试时间，提高测试效率。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：