[实用新型]一种高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线有效
申请号: | 202021074546.9 | 申请日: | 2020-06-11 |
公开(公告)号: | CN212257695U | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 邹高迪;邹新 | 申请(专利权)人: | 深圳迈睿智能科技有限公司 |
主分类号: | H01Q1/48 | 分类号: | H01Q1/48;H01Q1/50;H01Q1/52;H01Q1/36;H01Q15/24;H01Q21/28 |
代理公司: | 宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244 | 代理人: | 孟湘明 |
地址: | 518127 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可靠性 收发 分离 微波 多普勒 探测 天线 | ||
1.一种高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其特征在于,包括:
一参考地基板,其中所述参考地基板承载有一参考地;和
至少两辐射源,其中两所述辐射源呈正交状态被间隔设置于所述参考地,其中各所述辐射源被设置有一馈电点,其中当两所述辐射源分别于所述馈电点被馈电时,于其中一所述辐射源形成一接收天线,并于另一所述辐射源形成一发射天线。
2.根据权利要求1所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中所述参考地具有两长边和连接两所述长边的两宽边,其中设各所述辐射源的所述馈电点向其物理中心点的方向为一极化方向,并设各所述辐射源的经所述极化方向的边为一极化边,其中在对应于所述极化边平行于所述参考地的所述宽边的所述辐射源的极化方向上,设对应于所述极化边平行于所述参考地的所述宽边的所述辐射源和对应于所述极化边平行于所述参考地的所述长边的所述辐射源之间的间距为参数d1,其中所述参数d1的数值范围被设置满足:d1≥λ/64,其中λ为所述高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线工作时产生的电磁波的波长。
3.根据权利要求2所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中所述高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线包括三个所述辐射源,其中两个所述辐射源之间相互平行并分别与另一个所述辐射源呈正交的状态。
4.根据权利要求3所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中该另一个所述辐射源被设置于该两个所述辐射源之间。
5.根据权利要求1所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中所述参考地具有两长边和连接两所述长边的两宽边,其中设各所述辐射源的所述馈电点向其物理中心点的方向为一极化方向,并设各所述辐射源的经所述极化方向的边为一极化边,其中在对应于所述极化边平行于所述参考地的所述宽边的所述辐射源的极化方向上,设对应于所述极化边平行于所述参考地的所述宽边的所述辐射源和对应于所述极化边平行于所述参考地的所述长边的所述辐射源之间的间距为参数d1,其中所述参数d1的数值范围被设置满足:d1≥3λ/16,其中λ为所述高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线工作时产生的电磁波的波长。
6.根据权利要求5所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中在对应于所述极化边平行于所述参考地的所述长边的所述辐射源的极化方向上,设对应于所述极化边平行于所述参考地的所述长边的所述辐射源和对应于所述极化边平行于所述参考地的所述宽边的所述辐射源之间的间距为参数d2,其中所述参数d2的数值范围被设置满足:d2≥λ/8,其中λ为所述高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线工作时产生的电磁波的波长。
7.根据权利要求2至6中任一所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中设各所述辐射源的所述极化边的边长为一参数a,其中所述参数a的数值范围被设置满足:λ/2≥a≥λ/4,其中设各所述辐射源的连接所述极化边的边对应的边长为一参数b,其中所述参数b的数值范围满足:6λ/16≥b≥3λ/16,其中λ为所述高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线工作时产生的电磁波的波长。
8.根据权利要求1至6中任一所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中所述馈电点偏离于所述辐射源的物理中心点地被设置于所述辐射源。
9.根据权利要求1至6中任一所述的高可靠性收发分离的微波多普勒探测天线,其中所述馈电点以微带线的结构被设置于所述参考地并经所述微带线导电连接于所述辐射源。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳迈睿智能科技有限公司,未经深圳迈睿智能科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202021074546.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:镍镁废水处理系统
- 下一篇:非晶合金薄膜裂纹试样预制装置