[实用新型]一种真空测试箱密封组件结构有效

专利信息
申请号: 202020479420.3 申请日: 2020-04-03
公开(公告)号: CN212319009U 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 王开平;杨先昭;何郁明;陈广权 申请(专利权)人: 长园科技集团股份有限公司
主分类号: F16L5/02 分类号: F16L5/02;F16L5/10
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 谭雪婷
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 真空 测试 密封 组件 结构
【权利要求书】:

1.一种真空测试箱密封组件结构,其特征在于:它包括固定套(1)、密封套(2)、固定螺母(3)以及密封圈(4),所述密封套(2)套置在传输线材上,所述固定套(1)套置在所述密封套(2)外侧,所述固定套(1)与所述密封套(2)密封配合,所述固定套(1)呈阶梯状,所述固定套(1)直径小的轴段上依次设有限位槽(5)和螺纹段(6),所述限位槽(5)与所述密封圈(4)相适配,所述螺纹段(6)与所述固定螺母(3)相适配,所述固定套(1)穿过真空测试箱的箱壁后,所述固定螺母(3)从真空测试箱内侧与所述螺纹段(6)配合,所述密封圈(4)与真空测试箱的箱壁密封配合,所述固定套(1)包括通过连接结构相固定连接的左固定块(1a)和右固定块(1b)。

2.根据权利要求1所述的一种真空测试箱密封组件结构,其特征在于:所述左固定块(1a)与所述右固定块(1b)通过固定螺丝(7)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种真空测试箱密封组件结构,其特征在于:所述固定套(1)的内部设有与传输线材的外径相适配的安装孔(8)。

4.根据权利要求1所述的一种真空测试箱密封组件结构,其特征在于:所述密封套(2)为薄膜结构。

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