[实用新型]一种LoRa模块自动测试装置

说明书

本实用新型公开了一种LoRa模块自动测试装置，所述测试治具包括有MCU、标准LoRa模块和转接口，所述MCU通过转接口与PC上位机电连接，待测模块通过测试治具供电；所述标准LoRa模块、待测模块分别与MCU电连接，所述标准LoRa模块、待测模块之间通过RF同轴线电连接。本申请测试时不需要LoRa信号发生器和频谱仪，本申请能实现上电自动测试完待测模块所有LoRa技术指标测试；本申请的测试装置成本低，工厂可以布置多台同时测试；测试项目多，基本包括LoRa的所有测试项；测试结果准确，误差小，批量好控制；测试结果直观明确，便于工人判断和维修；提高了测试效率，降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及电路模块测试领域，具体涉及一种LoRa模块自动测试装置。

背景技术

随着LoRa技术的成熟，落地的商业项目越来越多，市场对LoRa 模块的需求也在不断增多。LoRa采用扩频传输，TTL电平输出,LoRa ^M直序扩频技术具有更远的通讯距离，抗干扰能力强的优势。

目前LoRa模块批量生产的测试，有接信号发生器和频谱仪测试的，但信号发生器和频谱仪很贵，并且设置操作麻烦，批量测试效率不高；还有在测试仪的控制模块中添加检测LoRa模块，利用检测LoRa 模块配合电流表对待测LoRa电路板的各个功能单元，但是该系统需要工作人员手动记录测试数据，效率低，无法满足批量生产检测，准确度不够高。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型旨在提供一种提高测试效率和准确度的LoRa模块自动测试装置。

为实现该技术目的，本实用新型的方案是：一种LoRa模块自动测试装置，包括PC上位机、测试治具、待测模块，所述测试治具包括有MCU、标准LoRa模块和转接口，所述MCU通过转接口与PC上位机电连接，待测模块通过测试治具供电；

所述标准LoRa模块、待测模块分别与MCU电连接，所述标准LoRa 模块、待测模块之间通过RF同轴线电连接；

所述待测模块还电连接有电流表。

作为优选，所述转接口为USB转UART口。

作为优选，所述PC上位机通过转接口发送测试高/低电平信号至 MCU和待测模块，测试待测模块的GPIO状态。

作为优选，所述标准LoRa模块通过RF同轴线发送字符串给待测模块，检测待测模块的接收功能。

作为优选，所述待测模块通过RF同轴线发送字符串给标准LoRa 模块，检测待测模块的发射功率。

作为优选，所述标准LoRa模块设置有防止信号辐射的屏蔽罩。

本实用新型的有益效果，本申请测试时不需要LoRa信号发生器和频谱仪，本申请能实现上电自动测试完待测模块所有LoRa技术指标测试，包括休眠电流，发射功率，接收灵敏度，GPIO检测，上位机软件自动打印出这些测试项的测试结果；并能自动判断OK或者NG，具体哪一项NG也会提示出来，便于查找问题；其中发射功率除去顶针接触损耗和RF线损，基本接近实际仪器测出来的结果；本申请的测试装置成本低，工厂可以布置多台同时测试；测试项目多，基本包括LoRa的所有测试项；测试结果准确，误差小，批量好控制；测试结果直观明确，便于工人判断和维修；提高了测试效率，降低了生产成本。

附图说明

图1为本实用新型的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步详细说明。

如图1所示，本实用新型所述的具体实施例为一种LoRa模块自动测试装置，包括PC上位机、测试治具、待测模块，所述测试治具包括有MCU、标准LoRa模块和转接口，所述MCU通过转接口与PC上位机电连接，待测模块通过测试治具供电；