[实用新型]一种用于按键寿命测试的测试装置

说明书

本实用新型涉及一种用于按键寿命测试的测试装置，包括升降框、设置在升降框内的若干连接杆、固定设置在连接杆上的测试头，所述测试头包括与连接杆固定的限位框、穿过限位框的升降杆和固定在升降杆底端的点击头，该用于按键寿命测试的测试装置，能够同时对多个相同产品或者多种产品进行测试，测试效率高。

技术领域

本实用新型涉及自动化检测设备领域，特别涉及一种用于按键寿命测试的测试装置。

背景技术

对各种开关、按钮和相关类型的电子产品需要进行耐久性寿命的试验检测，但是现有的测试用的测试装置一般只具有一个测头，只能对一个产品进行测试，测试效率较低。

因此有必要提供一种新的用于按键寿命测试的测试装置来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于按键寿命测试的测试装置，能够同时对多个相同产品或者多种产品进行测试，测试效率高。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于按键寿命测试的测试装置，其包括升降框、设置在升降框内的若干连接杆、固定设置在连接杆上的测试头，所述测试头包括与连接杆固定的限位框、穿过限位框的升降杆和固定在升降杆底端的点击头。

具体的，所述升降框四周设置有套管。

具体的，所述连接杆的两端与升降框的固定方式为螺丝固定。

具体的，所述连接杆上刻有刻度。

具体的，所述限位框上设有螺栓，所述限位框通过螺栓与连接杆固定。

具体的，所述限位框上设有限位块，所述限位框套设在升降杆上。

具体的，所述限位框内设有弹簧，所述弹簧的顶端与限位框抵住，所述弹簧的底端与升降杆固定。

具体的，所述点击头上套有橡胶缓冲套。

本实用新型一种用于按键寿命测试的测试装置的有益效果是，能够同时对多个相同产品或者多种产品进行测试，测试效率高。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的用于按键寿命测试的测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型的用于按键寿命测试的测试装置的按击头的结构示意图；

图中：1.升降框，2.套管，3.连接杆，4.测试头，41.限位框，42.升降杆，43.点击头，44.限位块。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。

如图1-2所示，一种用于按键寿命测试的测试装置，其包括升降框1、设置在升降框1内的若干连接杆3、固定设置在连接杆3上的测试头4，所述测试头4包括与连接杆3固定的限位框41、穿过限位框41的升降杆42和固定在升降杆42底端的点击头43。升降框1被外部驱动源驱动进行升降，使得测试头4持续按击产品上的按键，测试头4内的弹簧和橡胶缓冲套可以防止产品按键被外力损坏，而不是由于长时间按击产生结构性损坏，从而尽量避免外力损坏这个误差，而且弹簧和橡胶缓冲套还可以保护测试头4，防止测试头4损坏。

具体的，所述升降框1四周设置有套管2。套管2可以便于升降框1装入测试设备中。

具体的，所述连接杆3的两端与升降框1的固定方式为螺丝固定。

具体的，所述连接杆3上刻有刻度。刻度可以使得在安装测试头4时，工人能够直观的了解测试头4的间距，以便于对测试头4安装。