[实用新型]一种光学薄膜测厚仪有效
申请号: | 202020252153.6 | 申请日: | 2020-03-04 |
公开(公告)号: | CN211373516U | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 兰慧琴;雷芳芳;曾思通 | 申请(专利权)人: | 福建船政交通职业学院 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 福州旭辰知识产权代理事务所(普通合伙) 35233 | 代理人: | 程春宝 |
地址: | 350007 福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光学薄膜 测厚仪 | ||
本实用新型公开了一种光学薄膜测厚仪,属于薄膜测厚仪的技术领域,包括底座,所述底座的上侧设置有工作台,所述底座的下侧设置有两组校准螺栓,所述校准螺栓贯穿所述底座与所述工作台活动连接,所述底座的左侧开设有滑轨,从而使工作台在一个水平高度,当需要测量的物体厚薄不一致时,可以移动移动轮,使移动轮前后移动,带动光学探头前后移动,可以观察被测量物体不同的厚薄度;当需要调节光学探头的高度时,旋转齿轮,齿轮会转动时,会带动偏移板上下移动,从而带动光学探头上下移动,从而可以调节光学探头的高度。
技术领域
本实用新型属于薄膜测厚仪的技术领域,具体涉及一种光学薄膜测厚仪。
背景技术
由薄的分层介质构成的,通过界面传播光束的一类光学介质材料。光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代,光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域,制造各种光学仪器,主要的光学薄膜器件包括反射膜、减反射膜、偏振膜、干涉滤光片和分光镜等等。它们在国民经济和国防建设中得到了广泛的应用,获得了科学技术工作者的日益重视;但是在实际测量中,其中测量的工作台万一不平,则会导致测量误差;且探头的位置高度以及位置都是固定不动的,影响多角度观察测量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种光学薄膜测厚仪,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种光学薄膜测厚仪,包括底座,所述底座的上侧设置有工作台,所述底座的下侧设置有两组校准螺栓,所述校准螺栓贯穿所述底座与所述工作台活动连接,所述底座的左侧开设有滑轨,所述滑轨的内部活动连接有移动轮,所述移动轮上固定连接有移动板,所述移动板的上侧固定连接有支撑管,所述支撑管的内部开设有空槽,所述空槽的内部插接有偏移板,所述所述偏移板的上端贯穿所述支撑管且延伸至外侧,所述支撑管的前侧开设有齿轮槽,所述齿轮槽内部通过滚轴固定连接有齿轮,所述齿轮与所述偏移板啮合,所述支撑管右侧开设有移动槽,所述偏移板右侧固定连接有连接杆,所述连接杆右端贯穿移动槽并固定连接有光学探头。
进一步的,所述校准螺栓在所述工作台的底侧均匀分布,且通过滚轴与所述工作台的底侧活动连接。
进一步的,所述底座的下侧均匀固定连接有四组吸盘。
进一步的,所述光学探头上设置有USB接口,外接有电源以及显示屏。
进一步的,所述支撑管为中空结构,且为半封闭结构。
进一步的,所述偏移板的右侧固定连接有齿块,所述齿块在所述偏移板上均匀排列,且与所述齿轮相匹配。
进一步的,所述移动槽的高度与所述支撑管的长度大小相等。
与现有技术相比,本实用新型提供了一种光学薄膜测厚仪,具备以下有益效果:
本实用新型通过设置有校准螺栓,且校准螺栓与底座和工作台连接,这样的设置,当工作台发生位置偏移时,可以通过调整校准螺栓,使工作台始终保持在水平位置;设置有滑轨,使光学探头可以在底座上移动,可以更好的贯穿物体的厚度,设置的齿轮与偏移板啮合,可以调节光学探头的高度。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1为本实用新型的正视图;
图2为本实用新型左视图。
图中:1底座、2吸盘、3校准螺栓、4工作台、5移动板、6滑轨、7移动轮、8支撑管、9齿轮、10齿轮槽、11偏移板、12连接杆、13光学探头、14空槽、15移动槽。
具体实施方式
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