[实用新型]一种自动张拉系统的位移传感器校核装置有效

专利信息
申请号: 202020228974.6 申请日: 2020-02-29
公开(公告)号: CN211917236U 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 徐超;邵林;夏文明;汪涵;张尧川;张兴旺;杜美 申请(专利权)人: 中铁四局集团第四工程有限公司;中铁四局集团有限公司
主分类号: B28B23/04 分类号: B28B23/04;B28B17/00
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 金凯
地址: 230041 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 系统 位移 传感器 校核 装置
【权利要求书】:

1.一种自动张拉系统的位移传感器校核装置,包括自动张拉系统(1)和反力框架(2),其特征在于,反力框架(2)上设置有直线传感器(3)和千斤顶(4),直线传感器(3)的固定端与反力框架(2)固定连接、探测端与千斤顶(4)接触连接,自动张拉系统(1)的输出端与千斤顶(4)的动力输入端连接。

2.根据权利要求1所述的自动张拉系统的位移传感器校核装置,其特征在于,反力框架(2)包括底座(21)和固定于底座(21)上的立柱(22),千斤顶(4)设置于底座(21)上,直线传感器(3)固定于立柱(22)上。

3.根据权利要求2所述的自动张拉系统的位移传感器校核装置,其特征在于,立柱(22)上固定设置有可移动的横杆(5),横杆(5)的一端与立柱(22)垂直连接、另一端伸长,直线传感器(3)的固定端可移动固定于横杆(5)上。

4.根据权利要求3所述的自动张拉系统的位移传感器校核装置,其特征在于,横杆(5)上固定设置有水准泡(6)。

5.根据权利要求3所述的自动张拉系统的位移传感器校核装置,其特征在于,直线传感器(3)上设置有角度尺(7),角度尺(7)设置于直线传感器(3)与横杆(5)的连接处。

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