[实用新型]用于薄膜开关按键测试的模具有效
申请号: | 202020183202.5 | 申请日: | 2020-02-19 |
公开(公告)号: | CN211826374U | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 章张健 | 申请(专利权)人: | 苏州科德软体电路板有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 薄膜开关 按键 测试 模具 | ||
本实用新型提供的用于薄膜开关按键测试的模具,通过在下模板的上表面开设于薄膜开关相匹配的凹槽,并在位于下模板正上方的上模板上开设与所述薄膜开关上的按键相对应的通孔,并在所述通孔内安装击打机构,通过在上模板上设置直线轴承,并在下模板上设置与该直线轴承相匹配的导向杆,使所述导向杆穿设在所述直线轴承内,使得上模板能够沿靠近或远离下模板的方向移动,在上模板和下模板互相靠近时,击打机构的击打头能够在电磁阀壳体的作用下上下移动,从而对薄膜开关上的按键进行性能测试,该结构设计能够同时对薄膜开关上的多个按键进行性能测试,测试效率高,不易漏测。
技术领域
本实用新型涉及薄膜开关加工制造领域,具体涉及一种用于薄膜开关按键测试的模具。
背景技术
薄膜开关是具有按键功能的操作系统,广泛应用于电子通讯、电子测量、工业控制、医疗设备、汽车工业、智能玩具、家用电器等领域。
在薄膜开关的加工制造过程中,需要对薄膜开关上的按键进行性能测试,特别是在新工艺、新材料导入时,需要对薄膜开关上的所有按键均进行性能测试,现有的测试方法是采用对薄膜开关上的按键逐个进行触发的方式进行测试,测试效率低,容易漏测,亟需一种能够对薄膜开关上的多个按键同时进行性能测试的模具,以提高测试效率,避免漏测。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服现有技术的缺点,提供一种用于薄膜开关按键测试的模具,该模具能够对薄膜开关上的多个按键同时进行性能测试,测试效率高,不易漏测。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是,用于薄膜开关按键测试的模具,包括:
下模板,所述下模板的上表面开设有与薄膜开关相匹配的凹槽;
上模板,所述上模板位于所述下模板的正上方,所述上模板上开设有与所述薄膜开关上的按键相对应的安装孔,所述安装孔为通孔,所述安装孔内安装有击打机构,所述击打机构包括电磁阀壳体和位于所述电磁阀壳体中心的圆柱形击打头,所述击打头能够沿所述安装孔轴心线方向上下移动;
所述上模板上还设有用于和所述薄膜开关的通讯口相匹配的接口和与所述击打机构电连接的排线接头;
所述上模板上设置有直线轴承,所述下模板上设置有与所述直线轴承相匹配的导向杆,所述导向杆穿设在所述直线轴承内,所述上模板能够沿靠近或远离所述下模板的方向移动。
优选地,所述凹槽的边缘设置有限位块,用于防止所述上模板过渡下压。
优选地,所述击打机构还包括套设在所述击打头上的弹簧,所述弹簧具有驱使所述击打头向上移动的趋势。
优选地,所述击打头的下部为倒置的去头圆锥体,所述薄膜开关上位于所述击打头正下方的按键位于所述击打头的下端面在所述薄膜开关上的投影区域内。
优选地,所述接口为压片接口、PCB接口、针式接口中的任意一种。
优选地,所述上模板上设置有用于固定所述接口的腰型孔,所述接口通过螺栓穿过所述腰型孔固定在所述上模板的下表面上,所述接口在所述上模板上的位置能够进行调整。
优选地,所述凹槽的深度大于所述薄膜开关的厚度。
进一步优选地,所述下模板上还开设有便于取放所述薄膜开关的避让孔,所述避让孔为通孔,所述避让孔与所述凹槽相连接。
由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:
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