[实用新型]一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器有效
申请号: | 202020076177.0 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN211785937U | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 刘建明;陈志阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市燊阳科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 肖宇扬 |
地址: | 518100 广东省深圳市宝安区航城街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高精度 智能手机 集成电路 校准 综合测试 仪器 | ||
本实用新型公开了一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,涉及检测设备技术领域。该高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,包括底座,底座顶部靠近一个拐角处设置有电源开关,底座顶部位于电源开关一侧设置有主板开关,底座顶部中心处设置有定位柱架,且定位柱架顶部设置有多个定位柱,底座顶部靠近一侧边缘处设置有电源正接线柱。该高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,使用时,将检测物通过定位杆进行快速有效的限位放置,通过控制手柄使升降架能够有效的带动测试触针高效的进行测试物的功能检测,有效的弥补了人为检测的偶然性,使检测物件实际使用时能够更为高效的进行功能的实现。
技术领域
本实用新型涉及检测设备技术领域,具体为一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器。
背景技术
手机用检测仪器是用于进行手机相关功能部件实际应用效果实验用的机械装置,但是,现有技术中手机用集成电路校准需要拥有相关知识人员进行有效的检查,实际检查效率较低,同时认为检测可能存在着偶然性,使检测物品实际使用效果可能无法满足正常使用要求,影响使用设备整体的功能实现。
实用新型内容
本实用新型提供了一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,使用后可以高效进行手机集成电路校准的检测,提高实际检测效率,有效防止人为检测的偶然性的发生,提高实际检测物的实际使用效果。
为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,包括底座,所述底座顶部靠近一个拐角处设置有电源开关,所述底座顶部位于电源开关一侧设置有主板开关,所述底座顶部中心处设置有定位柱架,且定位柱架顶部设置有多个定位柱,所述底座顶部靠近一侧边缘处设置有电源正接线柱,所述底座顶部位于电源正接线柱一侧设置有电源负接线柱。
为了能够有效的进行升降架的安装设置,使设备能够正常进行功能的实现,作为本实用新型一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,所述底座顶部靠近中心处焊接有支撑架。
为了方便进行升降架的攻读调整,作为本实用新型一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,所述支撑架一侧外表面靠近中心处设置有升降架,所述升降架外表面靠近一端边缘处套设有手柄。
为了使设备能够有效的进行检测物的检测工作,作为本实用新型一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,所述升降架底部靠近一侧边缘处开设有两个测试触针孔,且两个测试触针孔内部均设置有测试触针。
为了有效的进行检测结果的处理,提供检测物的实际检测状况,作为本实用新型一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,所述升降架顶部靠近一个拐角处开设有RF槽,且RF槽内部设置有RF座。
为了有效进行升降架的高度调节,使设备能够高效的进行功能的实现,作为本实用新型一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,所述升降架顶部靠近两个拐角处均开设有限位块孔,且限位块孔内部均设置有限位块,每个所述限位块顶部均开设有导轨柱孔,并且每个导轨柱孔内部均设置有导轨柱。
本实用新型提供了一种高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器。
具备以下有益效果:
(1)、该高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,使用时,将检测物通过定位柱进行有效的限位放置,通过控制手柄使升降架能够有效的进行高度的改变,当测试测针与检测物实际接触时,停止升降架的高度调整,控制设备进行检测物的实际功能检测,使设备能够多次进行检测物的校准检测,有效防止人为检测可能产生的偶然性,提高检测物实际使用效果。
(2)、该高精度智能手机用集成电路校准综合测试仪器,使用时,将检测物通过定位杆进行快速有效的限位放置,通过控制手柄使升降架能够有效的带动测试触针高效的进行测试物的功能检测,有效的弥补了人为检测的偶然性,使检测物件实际使用时能够更为高效的进行功能的实现。
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