[发明专利]一种多次编程电子熔丝装置

说明书

本申请公开了一种多次编程电子熔丝装置，包括单次编程单元模块、解析模块以及多次编程单元模块，单次编程单元模块用于存储单次编程数据；多次编程单元模块包括可多次读写数据的存储单元阵列，用于存储多次编程数据；解析模块用于读取单次编程单元模块传输的单次编程数据，在读取到初始化数据时，将解析得到的初始化数据写入到多次编程单元模块中；在读取到修正数据时解析得到修正位置和修正值，用修正值替换存储单元阵列中对应修正位置上存储的数据。本申请使得原本只有单次编程能力的电子熔丝具有多重修正能力，提高了使用的灵活性。另外，通过增加少量硬件的情况下即可完成多次编程，即使在熔丝比特数非常多的情况下，也可保持较小的硬件规模。

技术领域

本申请涉及半导体存储技术领域，尤其涉及一种多次编程电子熔丝装置。

背景技术

电子熔丝(eFuse)是一种单次编程(OTP)器件，被广泛应用于芯片内部以存储重要的信息，例如芯片版本数据、外接器件的电压、芯片启动需要设定的参数、模拟和数字电路的重要设定、存储器错误比特的修复位置、安全相关的密钥等。电子熔丝具有很高的可靠性和比较小的面积，但是在实际应用中常常遇到编程内容难以进行修正的问题。电子熔丝通过熔丝是否烧断来存储比特信息，通常未烧断时代表比特0，烧断时代表比特1。电子熔丝的初始状态是全0，需要写1的位置要烧断对应的熔丝。由于熔丝烧断后无法再恢复，导致电子熔丝可以由0写为1，但无法由1写回0，故称电子熔丝具有单次编程(OTP)特性。在实际的芯片生产、调试、测试、使用等环节中，单次编程(OTP)特性导致了很多麻烦：例如在生产环节中微小的烧写失误将会导致大量的芯片报废；在调试环节中无法对某一比特进行修正来观察不同的故障现象；在测试环节中无法反复进出某个测试模式；在使用环节中已经烧写好的芯片无法进行电子熔丝内容的在线升级等。

鉴于此，提供一种让原本只有单次编程(OTP)能力的电子熔丝具有多重修正能力的装置是非常有必要的。

发明内容

为解决上述问题，本申请提供了一种多次编程电子熔丝装置，包括：单次编程单元模块、解析模块以及多次编程单元模块；

其中，所述单次编程单元模块包括电子熔丝阵列，用于存储单次编程数据，所述单次编程数据包括初始化数据以及修正数据；所述多次编程单元模块包括可多次读写数据的存储单元阵列，用于存储多次编程数据；

所述解析模块用于读取所述单次编程单元模块传输的单次编程数据，在读取到初始化数据时，将解析得到的所述初始化数据写入到所述多次编程单元模块中；在读取到所述修正数据时解析得到修正位置和修正值，用所述修正值替换所述存储单元阵列中对应修正位置上存储的数据。

可选地，还包括：

多次编程接口模块，用于接收控制指令，对所述多次编程单元模块中的数据进行读取或写入操作。

可选地，还包括：

与所述解析模块和所述多次编程接口模块分别电连接的仲裁器，用于仲裁所述解析模块与所述多次编程接口模块对所述多次编程单元模块的数据写入操作。

可选地，还包括：

单次编程接口模块，用于接收控制指令，对所述单次编程单元模块中的数据进行读取或写入操作。

可选地，还包括：

与所述单次编程接口模块和所述单次编程单元模块分别电连接的单次编程烧写模块，用于接收经由所述单次编程接口模块发送的烧写指令，依据烧写时序将待烧写数据发送到所述单次编程单元模块中对应的存储位置，进行烧写操作。

可选地，还包括：

与所述单次编程接口模块和所述单次编程单元模块分别电连接的单次编程读取模块，用于接收经由所述单次编程接口模块发送的读取指令，依据读取时序对所述单次编程单元模块中对应存储位置的数据进行读取，并经所述单次编程接口模块返回读取到的数据。