[发明专利]液晶基板的膜层透湿性检测装置及方法在审
申请号: | 202011626510.1 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN112816358A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 周世新 | 申请(专利权)人: | TCL华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N5/02 | 分类号: | G01N5/02;B01D65/10 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 远明 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 液晶 膜层透湿性 检测 装置 方法 | ||
本申请实施例公开了一种液晶基板的膜层透湿性检测装置及方法,所述膜层透湿性检测装置包括:测试腔体和吸水层;所述测试腔体包括上部腔体和下部腔体;所述吸水层设在所述测试腔体中,且位于所述下部腔体的上方;所述吸水层为具有吸水性的有机金属框架材料。本申请可以提高透湿性检测结果的准确率,吸水层易于清洗且可以循环使用。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种液晶基板的膜层透湿性检测装置及液晶基板的膜层透湿性检测方法。
背景技术
聚合物稳定垂直配向(polymer stabilized vertical alignment,PS-VA)是薄膜晶体管液晶显示器(Thin film transistor liquid crystal display,TFT-LCD)的一种技术。在PS-VA的成盒制程中,需要用边框胶密封液晶盒,起到防止液晶溢出和水汽侵入,维持液晶盒周边盒厚,以及黏附阵列基板和彩膜基板的作用。其主要成分是树脂以及一些添加剂(如热固化剂、紫外光引发剂、硅烷偶联剂等)。
阵列基板和彩膜基板对盒后,随即进行紫外固化及之后的热固化的相关制程确保边框胶固化完全,保证其接着力。然而,在后续的面板使用过程中,尤其是在商用显示的环境下,如果有一定量的水汽进入盒内,则将引发一系列电化学反应,造成线路短路、过孔失效等,进一步造成水平渐变线等严重问题,例如:水汽直接通过框胶腐蚀GOA(GateDriveron Array,阵列基板行驱动技术)电路,或者聚酰亚胺(Polyimide,PI)膜层吸湿后透过框胶腐蚀GOA电路。因此,边框胶的透湿性十分重要。
一般而言,对边框胶透湿性的检测装置如图1所示,图1示出了现有技术中透湿性测量装置的结构示意图,所述透湿性测量装置包括测试腔101和位于所述测试腔101内部的透湿杯102、干燥皿103、干燥剂104、称重天平105和温度湿度传感器106;其中所述透湿杯102内部装有水,所述透湿杯102内相对湿度(Relative Humidity,RH)约为100%。在检测待测量框胶膜100透湿性时,将所述待测量框胶膜100放置于所述透湿杯102的杯口上,图1中箭头所示方向为水蒸气(水分子)的运动方向。这种检测装置的缺点在于传统干燥剂104(或者吸水剂)会在吸水之后结块,如无水氯化钙、无水硫酸镁等。一方面,干燥剂104结块会阻碍未结块部分干燥剂104的吸水性能,这就会造成对框胶膜101透湿性能测定不准;另一方面结块之后的干燥剂104容易紧紧粘附在干燥皿上,造成干燥皿的腐蚀及难于清洗,且已结块的干燥剂104无法重复利用,易造成环境污染。
因此,目前的透湿性检测装置存在因干燥剂结块阻碍未结块干燥剂吸水而导致测定不准、结块后的干燥剂贴附于干燥皿上而导致腐蚀干燥皿且难清洗以及结块后的干燥剂无法重复利用容易污染环境的技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种液晶基板的膜层透湿性检测装置及膜层透湿性检测方法,可以提高透湿性检测结果的准确率,吸水层易于清洗且可以循环使用,解决了现有透湿性检测装置中使用传统干燥剂结块阻碍未结块干燥剂吸水而导致测定不准、结块后的干燥剂贴附于干燥皿上而导致腐蚀干燥皿且难清洗以及结块后的干燥剂无法重复利用容易污染环境的问题。
本申请实施例提供一种液晶基板的膜层透湿性检测装置,测量待测膜层的透湿性,所述膜层透湿性检测装置包括:
测试腔体,包括上部腔体和下部腔体,所述上部腔体连接在所述下部腔体上,所述下部腔体用于储水且顶部具有第一开口,所述第一开口与所述上部腔体相连通;及
吸水层,设在所述测试腔体中,且位于所述下部腔体的上方;
其中,所述吸水层为具有吸水性的有机金属框架材料。
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