[发明专利]一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具

说明书

本发明提供一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具，包括：信号处理通用电路板、位于所述信号处理通用电路板上的输入转接插座和位于所述信号处理通用电路板底部的输出转接插针。本发明可通过对频率信号进行分频降频处理实现对超高基频晶体振荡器精确的老化性能测试，解决现有测试方法较难实现输出频率超过150MHz甚至达GHz的晶体振荡器产品的老化性能测试难题，同时具有产品适配性好、应用范围广、测试精度及测试效率高等特点和优势。

技术领域

本发明涉及元器件测试领域，特别是一种用于超高基频晶体振荡器批量老化性能测试的测试夹具。

背景技术

石英晶体振荡器是利用具有压电效应的石英晶片和振荡电路而制成的频率标准与选择精密时频元件。由于石英晶体振荡器具有体积小、重量轻、可靠性高、频率稳定度优良等一系列优异特点，被广泛应用于通信、医疗、航空航天、武器装备等行业及领域中。

晶体振荡器的频率随着时间的变化而变化，称为老化。老化性能是评估石英晶体元器件频率稳定度优良性的一个重要指标，对整机及系统的时钟信号稳定性产生关键影响。因此在研制生产阶段对晶体振荡器产品的老化性能测试及评估十分重要。

晶体振荡器的老化性能测试，目前通常均采用常规的专业老化测试系统进行，将振荡器安装在适配的测试座工装，然后接插在专用测试板上，常规测试板通常可安装多只产品，通过测试板上的振荡及测试电路以及多路传输及转换开关，可实现对产品频率的遍历数据采样及传输，实现同时对多只产品的精确、稳定的频率测试及老化性能评估。在上述现有技术下，产品频率信号的传输及转换高度依赖多路传输及转换开关等硬件的本征性能，并于其传输及转换速度高度正相关，产品输出频率越高，需求的硬件传输及转换速度就越高。然而目前由于行业内常规采用的测试板硬件普遍存在的性能瓶颈，其硬件传输及转换速度有限，当产品输出频率超过150MHz时，极易导致频率信号传输阻断或截止，使得采样的频率数据发生断续遗漏，最终老化性能计算不准确可靠，从而导致现有测试技术的产品适用范围受到明显限制，可测试频率通常不超过150MHz。

发明内容

本申请实施例提供一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具，可以实现对超高基频晶体振荡器精确的老化性能测试，解决现有测试方法较难实现输出频率超过150MHz甚至达GHz的晶体振荡器产品的老化性能测试难题，同时具有产品适配性好、应用范围广、测试精度及测试效率高等特点和优势。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

一种用于超高基频晶体振荡器的老化性能测试夹具，包括：信号处理通用电路板、位于所述信号处理通用电路板上的输入转接插座和位于所述信号处理通用电路板底部的输出转接插针；

其中，所述信号处理通用电路板，用于对待测试的超高基频晶体振荡器的本征输出频率进行分频降频处理；

所述输入转接插座，用于将所述待测试的超高基频晶体振荡器安装在所述老化性能测试夹具上，并与所述待测试的超高基频晶体振荡器的各个引脚连接，以及，通过所述信号处理通用电路板与所述输出转接插针形成电气导通；

所述输出转接插针，用于将所述老化性能测试夹具与老化系统进行适配安装并形成电气连接与数据信号联通。

进一步，所述信号处理通用电路板包括基体和设置在所述基体上、与所述基体的内部电路导通的信号分频处理集成电路芯片。

进一步，所述输入转接插座和所述输出转接插针的数量相等。

进一步，所述输入转接插座和所述输出转接插针均通过焊接方式分别安装连接在所述信号处理通用电路板的顶部和底部上。

本发明的有益效果如下：