[发明专利]一种PT100温度校准与测量方法

说明书

本发明公开了一种PT100温度校准与测量方法。其中，温度校准方法采用多点校准法，如图1所示：首先使用不同的精密电阻对多个温度点进行采样，根据PT100温度采集电路的输出电压推算出对应的电阻值，然后分别将实际测得的电阻值与分度表中的电阻值对应取差值，得到静态校准值，分段对静态校准值取差值，再除以该段的温度差值，得到对应段的动态校准系数，将动态校准系数乘实测温度值所在温度域得到动态校准值，最后将静态校准值与动态校准值相加构成该段的动态校准公式，再与实际测量值相加得到最终的校准值。温度测量方法使用查表法与公式法相结合的方式，如图2所示：首先根据PT100温度采集电路的输出电压推算出对应的电阻值，然后将实测的电阻值加上静态校准值，使用二分法在分度表中查找对应的温度域，将温度域代入动态校准公式得到最终的电阻校准值△R_{N_ADJUST}，再次使用二分法在分度表中查找对应的温度域，在更新后的温度域上使用线性方式计算出当前电阻值对应的温度值。

技术领域

本发明涉及温度校准与测量技术领域，特别是一种PT100温度校准与测量方法。

背景技术

随着电子和自动化技术的飞速发展，自动化检测成为其重要的一环，其中，温度检测是自动化检测中的重要组成部分。铂热电阻PT100是温度检测常用的传感器，由于其阻值随着温度上升近似呈线性增长而被广泛应用于医疗、工业制造、电机控制、火灾报警等测温场景中。但在一些要求高精度测温的场合中，若不对PT100进行温度校准，或仅使用单一的查表法或公式法测量温度值，则会导致较大的测量误差。

因此，需要提供一种PT100温度校准与测量方法，用于在软件层面降低PT100测温时导致的误差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服上述现有技术存在的问题，提供一种PT100温度校准与测量方法。

为实现上述发明目的，本发明采取如下技术方案，包括：

S1，PT100温度校准方法；

S2，PT100温度测量方法。

进一步地，所述步骤S1中的PT100温度校准方法，包括：

S11，使用不同的精密电阻对多个温度点进行采样，根据PT100温度采集电路的输出电压推算出对应的电阻值；

S12，分别将实际测得的电阻值与分度表中的电阻值对应取差值，得到静态校准值；

S13，分段对静态校准值取差值，再除以该段的温度差值，得到对应段的动态校准系数，将动态校准系数乘实测温度值所在温度域得到动态校准值；

S14，将静态校准值与动态校准值相加构成该段的动态校准公式，再与实际测量值相加得到最终的校准值。

进一步地，所述步骤S2中的PT100温度测量方法，包括：

S21，根据PT100温度采集电路的输出电压推算出对应的电阻值；

S22，将实测的电阻值加上静态校准值，使用二分法在分度表中查找对应的温度域；

S23，将温度域代入动态校准公式得到最终的电阻校准值△R_{N_ADJUST}，再次使用二分法在分度表中查找对应的温度域；

S24，在更新后的温度域上使用线性方式计算出当前电阻值对应的温度值。

进一步地，所述步骤S11中的精密电阻为不同温度点对应的分度表中的精密电阻。

进一步地，所述步骤S11中的根据PT100温度采集电路的输出电压推算出对应的电阻值，包括：

S111，使用恒压源对PT100温度传感器供电，检测PT100温度传感器的电压模拟量；