[发明专利]一种自适应漏电保护的自诊断电路

权利要求书

1.一种自适应漏电保护的自诊断电路，其特征在于：包括漏电端口输入模块，漏电信号处理，脱扣信号处理和SCR恒流驱动，

还包括内部复位控制模块，内部振荡器，和振荡器分频器，还包括相位端口，自诊断周期定时器，自测计数器，脱扣延时定时器，所述脱扣信号处理3和所述振荡器分频器，所述相位端口，所述脱扣延时定时器相连，还包括逻辑控制，可控硅测试端口，比较器组和故障测试输出，所述逻辑控制和所述相位端口，所述自诊断周期定时器，所述自测计数器，所述可控硅测试端口，所述比较器组相连。

2.如权利要求1所述的自适应漏电保护的自诊断电路：对于大于一定时长的漏电信号确认为是真正的漏电信号，作为漏电处理，

这部分按照漏电保护功能工作，对于自诊断来说，会设置自诊断周期，在自诊断周期启动后，对于在自诊断周期内的漏电信号，对于一定范围内的漏电信号，会处理成模拟漏电信号。

3.如权利要求1所述的自适应漏电保护的自诊断电路：在交流电正半周期，电路监测流入可控硅测试端口的电流，根据流入的电流转换成电压，根据电压的大小，利用电压比较器，可以判断外部的脱扣线圈L1是否连接可靠。

4.如权利要求1所述的自适应漏电保护的自诊断电路：在检测周期内，交流电正半周期检测互感器能否正常工作；在正半周期开始后，故障测试输出端口产生一个高电平，模拟故障信号产生模拟漏电流，互感器动作，漏电检测A 产生漏电信号为高电平，则认为互感器功能正常，内部漏电信号标志位置“1”，同时去除故障测试输出端口信号，变成低电平。

5.如权利要求1所述的自适应漏电保护的自诊断电路：在检测周期内，在紧接着的交流电负半周期检测可控硅器件组能否正常工作；在负半周期开始后，自检周期内可控硅测试端口由内部供电上拉，当内部漏电信号标志位置“1”时，使得脱扣信号产生一个高电平，打开可控硅，可控硅器件组工作，从而拉低可控硅测试端口电平，当检测到可控硅触发后，则去除可控硅测试端口的供电以及脱扣信号，功能检测正常，完成检测周期。

6.如权利要求1所述的自适应漏电保护的自诊断电路：故障测试输出在自检周期中，故障测试输出端口产生一个恒流驱动100uA能。