[发明专利]一种高分辨率连续太赫兹波叠层成像方法有效

专利信息
申请号: 202011569692.3 申请日: 2020-12-26
公开(公告)号: CN112782124B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 戎路;谭芳蕊;王大勇;王云新;赵洁 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/3581;G01N21/01
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 高分辨率 连续 赫兹 波叠层 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种高分辨率的连续太赫兹叠层成像系统,其特征在于:包括二氧化碳泵浦连续太赫兹激光器,两个镀金离轴抛物面镜、太赫兹透镜、被测物体、二维电动平移台和面阵式热释电探测器;二氧化碳泵浦连续太赫兹激光器作为辐射源;离轴抛物面镜将激光器辐射出的连续太赫兹波扩束准直成平行光;太赫兹透镜对平行光进行汇聚;被测物体固定在二维电动平移台上,且置于太赫兹透镜后焦面之后,二维电动平移台的x轴、y轴用以水平、垂直移动被测物体;面阵式热释电探测器放置在被测物体后,用以采集衍射强度信息;太赫兹波由激光器生成后,通过两个离轴抛物面镜进行扩束准直,太赫兹透镜将平行光进行汇聚,被测物体放在太赫兹透镜后焦面之后,面阵式热释电探测器记录物体后的衍射信息;通过移动二维电动平移台,面阵式热释电探测器采集到物平面有交叠区域的物体衍射图Ij(u),其中j=1,2,3…J,J是扫描位置的总数;

该连续太赫兹叠层成像系统的成像方法包括如下步骤,S1扩束准直后的平行光被太赫兹透镜汇聚,调节焦距为f的太赫兹透镜与被测物体间距为d0,使得被测物体位于太赫兹透镜后焦面之后d0-f处,假设物面坐标为r=(x,y),记录面的坐标为u=(ξ,η),被测物体表面的复振幅分布和探针函数分别表示为O(r)和P(r);被测物体与探测器间距为d,去掉被测物体,用探测器记录发散球面波探针的强度图I0(u),作为以发散球面波为探针的ePIE算法的初始探针猜测;

S2将被测物体加入光路中,按照电动平移台的扫描路径依次采集物体的衍射强度Ij(u),表达式如下:

Ij(u)=|Gd{O(r)P(r-Rj)}|2, (1)

其中Rj=(xj,yj)表示样品的第j个平移向量,j=1,2,3…J,J是衍射图样的总数,G{}为衍射传播算子,我们采用角谱衍射传播;

S3利用ePIE算法重建物面低分辨率的物体复振幅透过率函数和探针函数;

S4利用外推算法扩大衍射图的尺寸,重建物面高分辨率的物体复振幅透过率函数;

S5采用更新后的物函数作为初始物函数猜测,更新后的探针函数作为初始探针函数猜测,对下一样品位置的衍射图依次进行重建处理,直至更新完整个物面一次;对整个物面迭代n次,收敛后便得到最终重建物面的高分辨率物体透过率函数和探针函数分布;

外推算法的具体流程分为以下七个步骤:

S4.1第j个位置的重建中,将第j个衍射强度图Ij(u)、探针尺寸、平移向量、衍射距离作为已知量,衍射强度图的矩阵大小为M0×N0,以ePIE算法重建物面的物体复振幅透过率函数作为初始猜测物函数OjX,其中物函数OjX的矩阵大小为K×L,X=(k,l)代表物体的像素位置,将ePIE算法重建物面的探针函数外围填充随机数至M×N大小,作为初始猜测探针Pjr,其中KM,LN,表示局域照明光扫描样品区域,MM0,NN0

S4.2在OjX中以Rj=(Rxj,Ryj)位置为中心截取M0×N0区域,在M0×N0区域外围填充随机数至M×N大小,作为部分物函数objjr,则第j个位置的样品出射波为:

ψjr=objjr×Pjr. (2)

S4.3样品的出射波乘上一个汉宁窗以消除孔径效应,然后利用角谱衍射传播距离d到记录面,得到记录面的衍射场复振幅分布:

Φjr=Gd{Hanning(ψjr)}. (3)

S4.4用探测器采集的衍射强度Ij(u)的均方根代替(3)式中Φjr中心位置M0×N0区域的振幅,M0×N0区域外的振幅和全部相位保留,得到新的复振幅分布:

其中,S0为M0×N0区域;

S4.5将新的记录面衍射场复振幅分布乘上汉宁窗后衍射回传距离d至物面,得到更新后的物体出射光场ψ'jr

S4.6通过更新函数更新初始猜测的部分物函数和探针函数,更新函数如下:

其中α,β为权重系数;ε为调节系数,用以调节分母不等于0,取值为0.01;

S4.7截取更新后的部分物函数矩阵obj'jr的中心M0×N0区域,放回S4.2中截取的位置,得到更新后的物函数分布O'jX

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011569692.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top