[发明专利]一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法有效

专利信息
申请号: 202011557536.5 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN112763432B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 刘海岗;张祥志;郭智;许子健;王勇;邰仁忠 申请(专利权)人: 中国科学院上海高等研究院
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 邓琪
地址: 201210 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 自动 采集 吸收 实验 数据 控制 方法
【说明书】:

发明涉及一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法,包括:构建实验系统;制作光束线状态参数列表、原位实验条件参数列表、能量扫描参数列表以及位置坐标参数列表;从前述四个列表中提取一行或若干行参数,将提取出的若干行参数存储至中央控制及数据采集模块的控制模块中;控制模块对存储的若干行参数进行处理,自动选取实验所需的入射光、原位实验条件、实验数据采集方式以及待测样品的最佳位置。本发明可实现数据的自动采集和保存,从而实现吸收谱实验的自动运行,提高了实验效率,降低了实验操作的劳动强度。另外,本发明提高了实验数据的质量。

技术领域

本发明涉及吸收谱实验技术领域,更具体地涉及一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法。

背景技术

同步辐射光源可以为材料科学、生命科学、环境科学、物理学、化学、医药学、地质学等学科领域的基础和应用研究提供最先进的、不可替代的工具,并且在众多的领域得到了重要而广泛的应用。实验站是科学家和工程师利用同步辐射光揭开科学秘密、开发高新技术产品的综合科技平台。谱学实验是同步辐射光源重点发展的实验方法,可以研究材料的价态和电子结构等信息。谱学实验平台可同时装入十多个样品,对多种元素进行吸收谱实验。一条吸收谱线的实验时间需要十分钟左右(快速扫描可缩短至两三分钟),实验时需要频繁地切换样品,并且非均匀分布的样品还需要寻找最佳实验位置。另外,根据实验要求,不同测试需要特定的实验条件,包括温度、磁场、电压、电流等,并且不同测量元素需要更改光束线参数以实现实验要求的光束条件。

目前,样品切换、最佳位置寻找、实验条件选择、光束线参数更改以及数据采集等步骤大多需要实验人员手动完成,既费时又费力,严重制约了实验开展的速度和高质量实验数据的获取。特别是在寻找样品的最佳位置时,现有的方法均是直接观察信号值大体确定位置,这使得找到的位置并不是样品的最佳位置,从而导致测量不精确。因此,开发一种自动化的数据采集控制方法,实现自动更改光束线参数和实验条件参数、自动切换样品、寻找最佳样品位置、自动采集和保存数据,对于开展快速、高质量的同步辐射光源吸收谱实验具有重要意义。

发明内容

为解决上述现有技术中的问题,本发明提供一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法,能够自动切换样品、自动寻找最佳位置、自动选择实验条件、自动更改光束线参数以及自动采集和保存数据,提高吸收谱实验的效率和质量。

本发明提供的一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法,包括:步骤S1,构建一实验系统,该实验系统包括光束线模块、实验站模块以及中央控制及数据采集模块;步骤S2,在中央控制及数据采集模块的显示界面中观察到达所述实验站模块的光强变化,根据所述光强变化制作光束线状态参数列表;步骤S3,通过所述中央控制及数据采集模块的采集模块,采集所述实验站模块中的温度、磁场、电压以及电流信息,根据所述温度、磁场、电压以及电流信息制作原位实验条件参数列表;步骤S4,获取所述实验站模块中待测样品的历史实验数据,根据所述历史实验数据制作能量扫描参数列表;步骤S5,对所述实验站模块中的待测样品进行定位,获取待测样品的待测位置,根据获取的待测位置制作位置坐标参数列表;步骤S6,从所述光束线状态参数列表、原位实验条件参数列表、能量扫描参数列表以及位置坐标参数列表中提取一行或若干行参数,将提取出的若干行参数存储至所述中央控制及数据采集模块的控制模块中;步骤S7,所述控制模块对存储的若干行参数进行处理,在实验时自动选取实验所需的入射光、原位实验条件、实验数据采集方式以及待测样品的最佳位置。

进一步地,所述步骤S2包括:步骤S21,对波荡器的Gap值和Shift值进行调节,以分别确定在不同的能量范围时,使光通量保持在最大状态的Gap值和Shift值;步骤S22,制作一个联调文件EPU_file,该联调文件EPU_file包括对应于不同的能量范围的Gap值和Shift值;步骤S23,设置光束线调整时间阈值;步骤S24,将所述联调文件EPU_file以及光束线调整时间阈值保存至一张列表中,将该列表作为光束线状态参数列表。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海高等研究院,未经中国科学院上海高等研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011557536.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top