[发明专利]一种双涂层探针

说明书

本发明提供一种双涂层探针，包括主体，沿所述主体延伸方向的第一端部为测试端、第二端部为连接端，所述主体外表面设有第一绝缘涂层和第二绝缘涂层，所述第一绝缘涂层和第二绝缘涂层在所述测试端存在高度差，所述测试端包括第一裸露头，所述连接端包括第二裸露头，所述第一裸露头和所述第二裸露头均超出所述第一绝缘涂层的覆盖范围。本发明在主体外表面设有第一绝缘涂层和第二绝缘涂层，在测试端方向，第一绝缘涂层和第二绝缘涂层存在高度差，方便进行推进深度控制，限制在测试过程中探针放电的可能性，提高探针的测试可靠性，且治具烧毁时直接替换探针，无需更换治具，降低生产成本，提高生产效率。

技术领域

本发明属于电子设备测试技术领域，尤其涉及一种双涂层探针。

背景技术

在电子设备集成电路的测试领域，需要将探针固定在治具上，再控制治具使探针多次地接触集成电路，其中探针的测试端与集成电路相接触，探针的连接端与治具的漆包线接触，探针的中间涂有一层绝缘层，且探针之间的距离甚至小于0.03mm，彼此之间间隙很小。

因此在正常测试过程中，由于相邻的探针距离很小，而探针的测试端包括裸露的部分，以方便跟集成电路接触导通，导致在探针导通时，相邻两根探针存在放电的隐患，如果探针出现放电短路现象，则所测试的集成电路和所连接的治具均被烧毁；如果探针放电短路导致治具被烧毁而报废，只能更换整个治具，导致生产成本高，生产效率低下；另外地，由于探针中间只有一层绝缘层，在探针接触集成电路的过程中不好控制推进的深度，容易压损集成电路。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术存在的不足，提供一种双涂层探针，解决了现有技术中两根相距很近的探针之间容易放电的问题，同时克服探针推进深度不好控制的缺陷。

本发明提供一种双涂层探针，包括主体，沿所述主体延伸方向的第一端部为测试端、第二端部为连接端，所述主体外表面设有第一绝缘涂层和第二绝缘涂层，所述第一绝缘涂层和第二绝缘涂层在所述测试端存在高度差，所述测试端包括第一裸露头，所述连接端包括第二裸露头，所述第一裸露头和所述第二裸露头均超出所述第一绝缘涂层的覆盖范围。

进一步地，所述第一裸露头的形状为圆头状、尖头状或平头状中的一种。

进一步地，所述第一绝缘涂层和第二绝缘涂层的材料为具有柔软性质的聚合物。

进一步地，所述第一绝缘涂层覆盖在所述主体外表面，所述第二绝缘涂层覆盖在所述第一绝缘涂层外表面。

进一步地，所述第一绝缘涂层的厚度范围在0.001～0.005mm之间，所述第二绝缘涂层的厚度范围在0.005～0.009mm之间。

进一步地，所述主体由金属材料制成。

进一步地，所述主体的长度范围在10～40mm之间。

进一步地，所述第一裸露头的露出长度范围在0.05～0.5mm之间。

进一步地，在所述测试端，所述第一绝缘涂层比所述第二绝缘涂层向所述第一裸露头的方向多延伸出2.7mm。

进一步地，所述第二裸露头的露出长度范围在0.05～0.5mm之间。

本发明的有益效果：

本发明提供一种双涂层探针，在主体外表面设有第一绝缘涂层和第二绝缘涂层，在测试端方向，第一绝缘涂层和第二绝缘涂层存在高度差，方便当探针测试端插向集成电路时，此高度差形成的限位台阶可以起到限位作用，方便进行推进深度控制。

在本发明中，在测试端，主体在限位台阶至第一裸露头之间的部分仍然有第一绝缘涂层覆盖，将主体的无用裸露部分减小至最小，只有第一裸露头是超出第一绝缘涂层的覆盖范围，进一步限制在测试过程中探针放电短路的可能性，提高探针的测试可靠性。