[发明专利]模数转换器自动测试系统

说明书

本发明公开了一种模数转换器自动测试系统，包括：测试母板，包括被测模数转换器的安置装置、连接装置和测试接口；CPLD，通过测试接口与安置在测试母板上的被测模数转换器子板连接，用于根据第一时钟信号和相应的控制指令对被测模数转换器输出的被测数据进行数据采集；存储器，与CPLD连接，用于对CPLD采集的被测数据进行存储；上位机，与CPLD连接，用于向CPLD传输多种控制指令，以及根据第二时钟信号接收存储的被测数据，以对被测数据进行数据处理后实现对被测模数转换器的性能测试。该系统的抗干扰能力强、稳定性高，能够确保在对被测模数转换器批量测试和实验室验证测试时的准确性和可靠性。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种模数转换器自动测试系统。

背景技术

随着工、农业的发展，多路数据采集势必将得到越来越多的应用，为适应这一趋势，作这方面的研究就显得十分重要。总之，不论在哪个应用领域中，数据采集与处理将直接影响工作效率和所取得的经济效益。数据采集系统，从严格的意义上来说，应该是用计算机控制的多路数据自动检测或巡回检测，并且能够对数据实行存储、处理、分析计算以及从检测的数据中提取可用的信息，供显示、记录、打印或描绘的系统。

在数据采集系统中，ADC(Analog-to-Digital Converter，模拟/数字转换器)是模拟量与数字量接口的关键部件。现实世界中的信号，如温度、声音、无线电波、或者图像等，都是模拟信号，需要转换成容易储存、进行编码、压缩、或滤波等处理的数字形式，模拟/数字转换器正是为此而诞生，发挥出不可替代的作用。目前，随着数字处理技术的飞速发展，在通讯、消费电器、工业与医疗仪器以及军工产品中，对高速ADC的需求越来越多。高速ADC的动态测试是进行ADC研究、新产品试制和开发，以及ADC生产与应用中不可缺少的一个重要手段。ADC的性能好坏直接影响整个系统指标的高低和性能好坏，从而使得ADC的性能测试变得十分重要。高速、高精度、低功耗、多通道是ADC未来的发展趋势。而在ADC芯片测试过程中，对ADC输出采集数据能力的检测，是测试的关键，但在现有的ADC芯片采集系统，没有涉及到这部分的设计。

同时，现有的高速ADC芯片的自动测试方法，大多是采用FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)作为核心器件，但在批量测试过程中，FPGA的抗干扰能力差，稳定性不容易保障，且核心电路过于复杂，可靠性差。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种模数转换器自动测试系统，该系统的抗干扰能力强、稳定性高，能够确保在对被测模数转换器批量测试和实验室验证测试时的准确性和可靠性。

根据本公开提供的一种模数转换器自动测试系统，包括：测试母板，包括被测模数转换器的安置装置、连接装置和测试接口；

复杂可编程逻辑器件(CPLD)，通过所述测试接口与安置在所述测试母板上的被测模数转换器子板连接，用于根据第一时钟信号和相应的控制指令对被测模数转换器输出的被测数据进行数据采集；

存储器，与所述CPLD连接，用于对所述CPLD采集的所述被测数据进行存储；

上位机，与所述CPLD连接，用于向所述CPLD传输多种控制指令，以及根据第二时钟信号接收存储的所述被测数据，以对所述被测数据进行数据处理后实现对所述被测模数转换器的性能测试。

可选地，所述CPLD包括：

串口接收模块，用于通过串口接收所述上位机传输的多种控制指令；

数据采集模块，用于根据所述第一时钟信号和所述多种控制指令中的采集指令控制实现对被测模数转换器输出的被测数据的数据采集；

读写控制模块，用于根据所述多种控制指令中的读指令和写指令控制对所述存储器的数据读写；