[发明专利]IP核验证方法、装置及电子设备

说明书

本申请涉及一种IP核验证方法、装置及电子设备。本申请实施例提供的IP核验证方法，包括：根据验证需求，确定出目标数量种待验证配置；从预设的多个IP核模块中确定出与目标数量种待验证配置一一对应的目标数量个目标IP核模块，多个IP核模块为待验证IP核在被应用到多个芯片系统时对应的参数化描述对象；通过目标数量个目标IP核模块对待验证IP核进行验证，获得待验证IP核关于目标数量种待验证配置的验证结果。本申请实施例提供的IP核验证方法、装置及电子设备能够减少可复用的IP核验证过程中大量重复的工作，降低了时间成本和人力成本，同时，也使得IP核的验证过程更具有可控性，最终，提高可复用的IP核的验证效率。

技术领域

本申请涉及芯片设计制造技术领域，具体而言涉及一种IP核验证方法、装置及电子设备。

背景技术

随着半导体工艺特征尺寸的不断缩小，片上系统的规模越来越大，功能也日益复杂，片上系统验证的时间和资源开销也越来越大，因此，片上系统的验证流程也趋向于将IP核验证环境建立在由多个功能相关模块构成的子系统上，验证人员通过并行的完成多个子系统的功能验证，从而达到验证整个芯片功能的目的。

但是，在某些系统中，往往存在某些更小的IP核分别在不同子系统中被多次调用，这些IP核则属于可复用的IP核。这些IP核被调用时的配置不完全相同，例如，IP参数配置可能不相同，接口连接可能不相同，有效的功能特征也可能不相同。因此，在验证过程中，一方面，对于此类IP核需要对IP核本身进行功能的完整验证，另一方面，需要结合不同的应用场景进行验证，也即，将IP核应用到某个子系统或某个片上系统一起进行整体的验证。为了完成这些验证，验证人员需要分别在IP核验证系统、子系统验证系统和片上系统验证系统中分别把此类IP加入验证系统，并加入相关的测试用例。由于每个验证系统的设计相对独立，因此，会导致有大量重复的工作，耗费大量的时间成本和人力成本，从而降低验证效率。

发明内容

本申请的目的在于，提供一种IP核验证方法、装置及电子设备，以解决上述问题。

第一方面，本申请提供的IP核验证方法，包括：

根据验证需求，确定出目标数量种待验证配置；

从预设的多个IP核模块中确定出与目标数量种待验证配置一一对应的目标数量个目标IP核模块，多个IP核模块为待验证IP核在被应用到一个或多个芯片系统时对应的参数化描述对象；

通过目标数量个目标IP核模块对待验证IP核进行验证，获得待验证IP核关于目标数量种待验证配置的验证结果。

结合第一方面，本申请实施例还提供了第一方面的第一种可选的实施方式，从预设的多个IP核模块中确定出与目标数量种待验证配置一一对应的目标数量个目标IP核模块之前，IP核验证方法还包括：

确定出待验证IP核在被应用到一个或多个芯片系统时需设定的配置，以获得多种待设定配置；

生成与多种待设定配置一一对应的多个IP核模块。

结合第一方面的第一种可选的实施方式，本申请实施例还提供了第一方面的第二种可选的实施方式，根据多种待设定配置，生成与多种待设定配置一一对应的多个IP核模块，包括：

分别确定出多种待设定配置中，每种待设定配置所对应的多个特征项；

针对多种待设定配置中的每种待设定配置，生成一条待验证IP核的参数化描述对象，且参数化描述对象中具有待设定配置对应的多个特征项；

将与多种待设定配置一一对应的多条参数化描述对象，作为多个IP核模块。

结合第一方面的第二种可选的实施方式，本申请实施例还提供了第一方面的第三种可选的实施方式，从预设的多个IP核模块中获取与目标数量种待验证配置一一对应的目标数量个目标IP核模块，包括：