[发明专利]硬件模块测试方法、系统、电子设备和存储介质

说明书

本发明实施例涉及通信技术领域，公开了一种硬件模块测试方法、系统、电子设备和存储介质。上述硬件模块测试方法包括：获取待测试硬件模块的管脚信息；获取用于对所述待测试硬件模块进行测试的微控制单元MCU的信息；其中，所述MCU的信息至少包括MCU的管脚信息；根据所述待测试硬件模块的管脚信息和所述MCU的管脚信息，获取测试配置文件；根据所述测试配置文件，获取所述待测试硬件模块的测试结果。本发明实施例提供的硬件模块测试方法，无需使用复杂的仪器仪表，可以降低测试成本，灵活配置硬件模块的测试过程，大幅提高了测试过程的可操作性和可扩展性。

技术领域

本发明实施例涉及通信技术领域，特别涉及一种硬件模块测试方法、系统、电子设备和存储介质。

背景技术

随着半导体技术的高速发展，功能单一、体积巨大的硬件模块已经完成向高性能、高密度、小体积和多功能的高度集成化的方向转变。各行各业的技术发展、产品生产都离不开各种各样的硬件模块，由于硬件模块已高度集成化，硬件模块内部结构越来越精细、复杂，硬件模块内部任何细小的差别都会影响到硬件模块的性能和功能。为了保证硬件模块的性能，硬件模块在出厂之前需要进行多项管脚测试和功能测试。

发明人发现相关技术中存在以下问题：相关硬件模块测试系统主要由需要进行测试的硬件模块、多种不同功能的仪器仪表及测试后台构成。相关的硬件模块测试方法只是简单地对仪器仪表的表现情况(如读数或波形等)进行人工判断，以实现硬件模块的功能测试，使用仪器仪表成本较高，且进行不同的功能测试时，需要人工更换仪器仪表，大量占用硬件模块的管脚资源，导致测试过程不灵活，不全面，可操作性低，扩展性低。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种硬件模块测试方法、系统、电子设备和存储介质，无需使用复杂的仪器仪表，可以降低测试成本，灵活配置硬件模块的测试过程，大幅提高了测试过程的可操作性和可扩展性。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种硬件模块测试方法，包括以下步骤：获取待测试硬件模块的管脚信息；获取用于对所述待测试硬件模块进行测试的微控制单元MCU的信息；其中，所述MCU的信息至少包括MCU的管脚信息；根据所述待测试硬件模块的管脚信息和所述MCU的管脚信息，获取测试配置文件；根据所述测试配置文件，获取所述待测试硬件模块的测试结果。

本发明的实施方式还提供了一种硬件模块测试系统，包括：PC上位机模块，用于获取待测试硬件模块的管脚信息；获取用于对所述待测试硬件模块进行测试的微控制单元MCU的信息；根据所述管脚信息和所述MCU的信息，获取测试配置文件；MCU控制模块，用于根据所述测试配置文件，获取所述待测试硬件模块的测试结果。

本发明的实施方式还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述硬件模块测试方法。

本发明的实施方式还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述硬件模块测试方法。