[发明专利]一种过欠压检测电路

说明书

本发明提供一种过欠压检测电路，所述过欠压检测电路包括：一待检测芯片，所述待检测芯片具有一电压检测引脚；电流支路，设于所述待检测芯片的内部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电压检测引脚处提供一不为零的电流；电阻支路，设于所述待检测芯片的外部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电流支路的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片的过压保护和欠压保护。通过本发明提供的过欠压检测电路，解决了现有检测电路因U1_OVP和U1_UVP的比例固定而导致应用受限的问题。

技术领域

本发明涉及集成电路领域，特别是涉及一种过欠压检测电路。

背景技术

对于电源系统而言，当某一点的电压过高或过低时都需要进行电压保护。现有一种电压检测方案如图1所示，其通过两个独立的引脚来对电源芯片进行电压检测，其中一个引脚用来检测过压，另一个引脚用来检测欠压；这种方法的优点是被测电压的过压保护点和欠压保护点都可以调节，同时两者相互独立、互不影响；其缺点是外围检测电路稍复杂，同时还需要两个引脚去判断，在芯片本身引脚不够时需要对其功能进行取舍，或者需要更换更多引脚的封装，而这必将导致芯片成本的增加。

而现有另一种电压检测方案如图2所示，其将图1中的两个引脚合在一起，通过一个引脚来检测电压；其中被测电压的过压保护点被测电压的欠压保护点式中：R1为设定的第一电阻，R2为设定的第二电阻，OVP为芯片内部的过压基准，UVP为芯片内部的欠压基准。该方案中，通过调节R1和R2的阻值来调节U1_OVP和U1_UVP，但无论怎么改变R1和R2的阻值，U1_OVP和U1_UVP的比例都是固定的，无法调节；而在不同的应用场合，对U1_OVP和U1_UVP都有不同的要求，上述方案虽然外围检测电路简单，但由于U1_OVP和U1_UVP的比例固定，两者只能同时调节，无法只调节其中一个，从而导致应用受限。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种过欠压检测电路，用于解决现有检测电路因U1_OVP和U1_UVP的比例固定而导致应用受限的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种过欠压检测电路，所述过欠压检测电路包括：

一待检测芯片，所述待检测芯片具有一电压检测引脚；

电流支路，设于所述待检测芯片的内部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电压检测引脚处提供一不为零的电流；

电阻支路，设于所述待检测芯片的外部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电流支路的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片的过压保护和欠压保护。

可选地，所述电流支路包括：一电流源，所述电流源接入所述电压检测引脚。

可选地，所述电流支路包括：一电流源，所述电流源的电流输入端连接于所述电压检测引脚，所述电流源的电流输出端接地。

可选地，所述电流支路包括：一供流电阻，所述供流电阻的一端接入预设电压，所述供流电阻的另一端连接于所述电压检测引脚。

可选地，所述电阻支路包括：第一检测电阻和第二检测电阻，所述第一检测电阻的一端接入被测电压，所述第一检测电阻的另一端连接于所述第二检测电阻的一端及所述电压检测引脚，所述第二检测电阻的另一端接地。

可选地，所述待检测芯片包括：过压比较器、欠压比较器及逻辑控制器，其中，

所述过压比较器的第一输入端连接于所述电压检测引脚，其第二输入端接入过压基准，其输出端连接于所述逻辑控制器，用于对所述电压检测引脚处的电压和所述过压基准进行比较，并输出比较结果；