[发明专利]一种基于光学的气体压力温度高精度同步测量方法有效
| 申请号： | 202011415136.0 | 申请日： | 2020-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN112484783B | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 谢兴娟;姜延欢;杨军;张博涵 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02;G01L11/02;G01L19/04 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 王松 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光学 气体 压力 温度 高精度 同步 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于光学的气体压力温度高精度同步测量方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤一、利用吸收光谱法中的波长调制技术测量多个谱线线形参数，并通过迭代算法解算出可能含有较大系统误差的压力ps与温度值Ts；
步骤二、利用折射率法测量气体折射率变化值，由气体状态方程建立气体折射率、压力和温度关系如下所示：
p＝ρRT[1+Bρ+Cρ2+Dρ3]
式中：p为气体压力，R是理想气体常数，T为温度，B，C和D分别为第一，第二和第三密度维里系数，ρ为介质密度，计算公式为：
式中：n为气体折射率，Aε，bε分别为第一，第二介电维里系数；
步骤三、针对步骤一计算得到的可能含有较大系统误差的压力ps与温度Ts，利用步骤二建立的气体的压力，与温度和折射率之间的关系模型，进行修正，得到精确的压力值p0和温度值T0：
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