[发明专利]测试电极组及测试系统

说明书

本发明提供一种显示面板的测试电极组，包含第一驱动部、第一感测电极以及第二感测电极。第一驱动部包括连接至第一控制线路的第一驱动电极。第一感测电极连接至由第一控制线路控制的第一数据线路，而第二感测电极连接至由第一控制线路控制的第二数据线路。其中第一驱动部、第一感测电极与第二电极沿第一方向排列，且第一驱动部在第一方向上的宽度大于第一感测电极在第一方向上的宽度。

技术领域

本发明是关于一种测试电极组及测试系统，特别是关于显示面板的测试电极组及测试系统。

背景技术

在制造电子产品的各个阶段中，皆需要通过各种产品测试来管控各阶段的成效与不良率，以提供更高品质的电子产品至消费者手中。于制作显示面板或显示器时，所需要测试的步骤与流程更是不在话下。然而，当人们对于显示面板的显示品质要求的提升，例如HD、4K或更高的画质，此时数据线路数量会因画质提高而增加，所需要测试的点位数量也会相应的提升。但随着需要测试点位数量的提升，测试针脚的接点所需的面积也会增加或是产生其他问题。因此，如何使用较少的测试点位达到测试的效果，便是测试系统中需要优化的部分。

发明内容

本发明的一目的在于提供一种测试电极组及测试系统，可减少显示面板测试时所需使用的电极数量。

本发明提供一种显示面板的测试电极组包含第一驱动部、第一感测电极以及第二感测电极。第一驱动部包括连接至第一控制线路的第一驱动电极。第一感测电极连接至由第一控制线路控制的第一数据线路，而第二感测电极连接至由第一控制线路控制的第二数据线路。其中第一驱动部、第一感测电极与第二电极沿第一方向排列。其中第一驱动部在第一方向上的宽度大于第一感测电极在第一方向上的宽度。

本发明提供一种显示面板的测试系统，包含测试电极组以及探针组。测试电极组包括具有第一驱动电极的驱动部、第一感测电极以及第二感测电极。第一感测电极沿一方向设置于驱动部旁且距离有一间距。第二感测电极沿方向设置于第一感测电极旁且距离该间距。探针组包括探针卡、第一探针以及第二探针。第一探针设置于探针卡上。第二探针设置于探针卡上且距离第一探针有间距。其中当探针卡位于第一位置时，第一探针接触驱动部且第二探针接触第一感测电极并接收一第一测试信号。当探针卡位于第二位置时，第一探针接触驱动部且第二探针接触第二感测电极并接收第二测试信号。

如上所述的测试电极组以及测试方法，利用探针组在较大宽度的驱动部以及等间距设置的测试电极上的平移，探针在平移前后皆接触驱动部来减少驱动控制信号所需的电极数量。达到减少显示面板测试时所需使用的电极数量的目的。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明实施例中测试电极组于面板上位置的示意图。

图2A与图2B为本发明一实施例中测试系统量测平移探针组的示意图图3A-3D为本发明探针间距与电极间距的最大值与最小值范围的说明图。

图4A-4B为本发明一实施例中，驱动部包含多个驱动电极量测的示意图。

图5A-5C为本发明一实施例中，多个驱动部配置的示意图。

其中，附图标记

1：面板

10：测试系统

12：测试电极组

14：探针组

100、500：驱动部

110、510：驱动电极

210、220、230、240：感测电极

300：探针卡

410、420、430、440：探针