[发明专利]一种监控CMOS电池寿命的方法及相关装置

说明书

本申请公开了一种监控CMOS电池寿命的方法，包括采集CMOS电池的放电电流；获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。该方法能够对CMOS电池的寿命进行有效监控，可以得到COMS电池的实时寿命。本申请还公开了一种监控CMOS电池寿命的装置、设备及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。

技术领域

本申请涉及服务器技术领域，特别涉及一种监控CMOS电池寿命的方法；还涉及一种监控CMOS电池寿命的装置、设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

CMOS电池即内存电池是CMOS芯片的后备供电电池，CMOS芯片主要用来保存当前系统的硬件配置和操作人员对某些参数的设定，以确保电脑无论是处于开机状态还是遇到系统掉电，BIOS(Basic Input Output System，基本输入输出系统)信息都不会丢失。如果COMS电池没有电了，就无法正常为CMOS芯片供电，从而影响BIOS信息的保存，会丢失BIOS设备的内容，影响计算机启动的顺利进行。可见，为保障BIOS信息的正常保存，对CMOS电池的寿命进行监控，以便及时更换CMOS电池尤为重要。然而目前缺乏对CMOS电池的寿命进行监控的有效方式，因此，提供一种监控COMS电池的寿命的方案已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种监控CMOS电池寿命的方法，能够对CMOS电池的寿命进行有效监控，可以得到COMS电池的实时寿命。本申请的另一个目的是提供一种监控CMOS电池寿命的装置、设备以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种监控CMOS电池寿命的方法，包括：

采集CMOS电池的放电电流；

获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间；

根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命；

根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命。

可选的，所述采集CMOS电池的放电电流包括：

通过采样电阻将所述CMOS电池的放电电流转换为相应的采样电压；

通过差分放大电路对所述采样电压进行电压放大；

对经过电压放大后的采样电压进行ADC采样得到与所述放电电流对应的数字信号。

可选的，所述获取所述CMOS电池的电池容量的流失时间包括：

读取BIOS时间寄存器的初始数值，并读取BIOS时间寄存器的当前数值；

计算所述BIOS时间寄存器的当前数值与所述BIOS时间寄存器的初始数值的差值，得到所述流失时间。

可选的，所述根据所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流得到所述CMOS电池的初始寿命包括：

将所述CMOS电池的额定电池容量与所述放电电流相除得到所述CMOS电池的初始寿命。

可选的，所述根据所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间得到所述CMOS电池的当前寿命包括：

将所述CMOS电池的初始寿命与所述流失时间相减得到所述CMOS电池的当前寿命。

可选的，还包括：

判断所述CMOS电池的当前寿命是否低于报警阈值；

若所述CMOS电视的当前寿命低于所述报警阈值，则进行报警。