[发明专利]产线节拍合格率的统计方法、智能终端及存储装置在审
申请号: | 202011295613.4 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN114519169A | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 高锞 | 申请(专利权)人: | 深南电路股份有限公司 |
主分类号: | G06F17/18 | 分类号: | G06F17/18;G06F7/523;G06Q10/06;G06Q50/04 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 黎坚怡 |
地址: | 518117 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 节拍 合格率 统计 方法 智能 终端 存储 装置 | ||
1.一种产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述统计方法包括:
获取到设定周期内产线中每个工序的一次良品率以及非计划停机损失率;
利用每个所述工序的一次良品率以及非计划停机损失率计算得到每个所述工序的工序节拍合格率;
将每个所述工序的工序节拍合格率的乘积确定为所述产线的节拍合格率。
2.根据权利要求1所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述获取到设定周期内产线中每个工序的一次良品率以及非计划停机损失率包括:
依次获取到每个工序中各个工位的一次良品率,并将所述各个工位的一次良品率的乘积确定为所述工序的一次良品率。
3.根据权利要求1所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述获取到设定周期内产线中每个工序的一次良品率以及非计划停机损失率包括:
获取到每个工序的理论可生产数以及实际产出数;
通过所述理论可生产数以及实际产出数的差值确定产出损失数;
通过所述产出损失数以及所述理论可生产数计算得到所述工序的非计划停机损失率。
4.根据权利要求3所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,如果所述实际产出数大于所述理论可生产数,确定所述产出损失数为0。
5.根据权利要求1-4任一项所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述利用每个所述工序的一次良品率以及非计划停机损失率计算得到所述工序的工序节拍合格率包括:
利用所述工序非计划停机损失率得出产线中各工序实际产出率;
基于所述产线中各工序一次良品率和所述产线中各工序实际产出率的乘积确定所述工序的工序节拍合格率。
6.根据权利要求1-4任一项所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述获取到设定周期内产线中每个工序一次良品率以及非计划停机损失率包括:
获取到设定周期内产线生成每一种产品的每个工序一次良品率以及非计划停机损失率;
所述利用每个所述工序的一次良品率以及非计划停机损失率计算得到所述工序的工序节拍合格率包括:
利用所述产线生成每一种产品的每个所述工序的一次良品率以及非计划停机损失率,得到每个所述产品的工序节拍合格率;
利用每个所述产品的工序节拍合格率得到每个所述工序的工序节拍合格率。
7.根据权利要求6所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述获取到设定周期内产线中每个工序一次良品率以及非计划停机损失率包括:
获取到每个工序生产每一种产品的非计划停机损失率以及生产所述产品的生产时间;
利用每一种所述产品的非计划停机损失率以及生产时间计算得到所述工序的非计划停机损失率。
8.根据权利要求7所述的产线节拍合格率的统计方法,其特征在于,所述利用每一种所述产品的非计划停机损失率以及生产时间计算得到所述工序的非计划停机损失率包括:
利用每一种所述产品的非计划停机损失率以及生产时间得到所述产品的非计划停机损失率;
计算得到每一种所述产品的非计划停机损失率的损失率之和以及生产每一种所述产品的生产时间的时间和;
通过所述损失率之和与所述时间和的商确定所述工序的非计划停机损失率。
9.一种智能终端,其特征在于,所述智能终端包括处理器和存储器,所述处理器耦接所述存储器,所述处理器和所述存储器在工作时执行指令,能够实现权利要求1-8中任一所述产线节拍合格率的统计方法中的步骤。
10.一种具有存储功能的装置,其特征在于,存储有程序,所述程序被执行时实现权利要求1-8中任一所述产线节拍合格率的统计方法中的步骤。
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