[发明专利]泄露检测系统、方法、装置及非瞬态存储介质

权利要求书

1.一种泄露检测系统，包括：

吸收池，被配置为接收在位于所述吸收池外部的被检体的表面附近的气体，所述气体携带所述被检体在发生泄露时产生的目标物质；

吹送装置，被配置为将在所述被检体的表面附近的气体吹送到所述吸收池；

测量光源，被配置为向所述吸收池发射具有测量波长范围的光，所述目标物质在所述测量波长范围内具有特征吸收峰；

测量检测器，被配置为接收由所述测量光源发射并透射通过所述吸收池的测量光信号，并且基于所述测量光信号生成相应的测量电信号；以及

信号处理装置，被配置为基于从所述测量检测器接收的所述测量电信号确定所述目标物质的浓度。

2.根据权利要求1所述的泄露检测系统，其中，所述测量光源和所述测量检测器位于测量光路中，并且所述泄露检测系统还包括被配置为向所述吸收池发射具有参考波长范围的光的参考光源以及被配置为接收由所述参考光源发射并透射通过所述吸收池的参考光信号并且基于所述参考光信号生成相应的参考电信号的参考检测器，所述参考光源和所述参考检测器位于参考光路中，

其中，所述目标物质在所述参考波长范围内不具有特征吸收峰，

并且其中，所述测量光路与所述参考光路彼此共轴。

3.根据权利要求2所述的泄露检测系统，其中，参考物质在所述参考波长范围内具有特征吸收峰，并且其中：

所述参考物质与所述目标物质具有相同或相近的吸收光谱；和/或

所述参考物质的存在改变所述目标物质的吸收光谱。

4.根据权利要求3所述的泄露检测系统，其中，所述参考物质是水。

5.根据权利要求3所述的泄露检测系统，其中，在所述泄露检测系统的所述测量光路和所述参考光路上还设置有一个或多个反射镜，所述一个或多个反射镜被配置用于使得由所述测量光源和所述参考光源中的每一个发射的光在被所述测量检测器和所述参考检测器中的相应一个接收之前多次通过所述吸收池。

6.根据权利要求5所述的泄露检测系统，其中，所述信号处理装置还被配置为基于从所述参考检测器接收的所述参考电信号获得所述参考物质的基于波长调制的一次谐波信号，并且基于所述参考物质的所述一次谐波信号确定所述一个或多个反射镜的洁净程度。

7.一种泄露检测方法，包括：

将在位于吸收池外部的被检体的表面附近的气体吹送到所述吸收池，所述气体携带所述被检体在发生泄露时产生的目标物质；

向所述吸收池照射具有测量波长范围的光，所述目标物质在所述测量波长范围内具有特征吸收峰；

接收所述具有测量波长范围的光透射通过所述吸收池而得到的测量光信号并且基于所述测量光信号生成相应的测量电信号；以及

基于所述测量电信号确定所述目标物质的浓度。

8.一种泄露检测系统，包括：

吸收池，被配置为接收在位于所述吸收池外部的被检体的表面附近的气体，所述气体携带所述被检体在发生泄露时产生的目标物质；

气体移动装置，被配置为将在所述被检体的表面附近的气体移动到所述吸收池；

测量光源，被配置为向所述吸收池发射具有测量波长范围的光，所述目标物质在所述测量波长范围内具有特征吸收峰；

测量检测器，被配置为接收由所述测量光源发射并透射通过所述吸收池的测量光信号，并且基于所述测量光信号生成相应的测量电信号；以及

信号处理装置，被配置为基于从所述测量检测器接收的所述测量电信号确定所述目标物质的浓度，

其中，所述吸收池相对于外部环境是开放的，并且所述空气移动装置被配置为使得所述吸收池相对于所述外部环境处于正压。

9.一种泄露检测装置，包括：

一个或多个处理器；以及

存储计算机可执行指令的存储器，所述计算机可执行指令在被所述一个或多个处理器执行时使得所述一个或多个处理器执行根据权利要求7所述的泄露检测方法。

10.一种其上存储有计算机可执行指令的非瞬态存储介质，所述计算机可执行指令在被一个或多个处理器执行时使得所述一个或多个处理器执行根据权利要求7所述的泄露检测方法。