[发明专利]一种用于荧光强度峰检测的方法

说明书

本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光强度峰检测的方法。本发明通过设置用于荧光强度峰检测的方法，采用斜率值计算方法对荧光强度点的斜率值进行计算，确定斜率值最大值、最小值之间的数据个数，通过数据个数与设定值进行大小比较，从而能够排除突变点，所述荧光强度峰检测能够提高波峰值及其位置确定的准确性，有效解决现有波峰值的确定方法由于突变点的出现影响波峰值及其位置确定的准确性的技术问题，尤其在突变点偏大时其效果更为显著。

技术领域

本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光强度峰检测的方法。

背景技术

荧光免疫检测技术具有专一性强、灵敏度高、实用性好等优点，可被用于检测含量很低的生物活性化合物，如蛋白质(酶、接受体、抗体)、激素、药物及微生物等。荧光免疫分析仪进行荧光免疫检测的工作过程是：试剂卡通过检测区，LED光源产生激发荧光，并聚集在试剂卡的目标检测物上，目标检测物受激发后产生荧光，由分析仪检测获取，从而获得的荧光强度数据曲线，曲线中会出现与所含的目标物相对应的波峰。所述波峰的出现位置取决于成分的种类，波峰的大小(即其高度或面积)取决于与所述波峰相对应的成分的量或浓度。

目前一般采用波峰值计算方法确定波峰的大小，其采用直接选取荧光强度值最大值作为波峰值；或者选择若干个数值相对较大的荧光强度值，取它们的平均值作为波峰值。所得波峰值对应的位置则为波峰的位置。然而，在荧光测量过程中，由于一些干扰因素的存在，荧光强度值可能会出现突变的情况，使得荧光强度数据曲线出现一些与波峰类似的最大值或较大值，但这些最大值与待测物浓度并没有直接对应关系。采用上述波峰值计算方法，会将这种突变的最大值或较大值也纳入计算，这样便会导致波峰值计算出现偏差，导致最终的检测浓度准确度降低。

中国专利公开号为CN106645708A提供一种基于荧光免疫层析技术的定量检测计算方法，包括以下步骤：将滴加有待测样本溶液的荧光免疫试纸条插入荧光免疫分析仪中，依次经过LED光源照射、滤光片滤光处理、光电探测器检测、电信号处理、AD转换处理、滤波算法处理、基线拟合、寻波峰处理、计算T/C面积比值、计算浓度的过程，从而通过计算的浓度结果进行判断。上述计算方法通过滤波算法处理及基线拟合过滤掉各种噪声、信号干扰，提供较为精确的检测结果，但是仍存在无法排除突变异常信号，从而将突变异常信号纳入波峰值计算从而影响检测结果的情况。

故，现有技术具有较大的改进空间。

发明内容

本发明的目的是为了弥补现有技术的不足，提出一种用于荧光强度峰检测的方法。

为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种用于荧光强度峰检测的方法，包括以下步骤：

(1)采用荧光免疫分析仪以设定的测试频率f、测试时间t对试剂卡进行测试，按序输出荧光强度值，从而在以输出数值序号i为横坐标、荧光强度值F为纵坐标的坐标系上得到(f×t)个荧光强度点，得到对应的荧光强度散点图；

(2)峰检测：从荧光强度散点图中找出波峰位置，包括以下步骤：

a.计算荧光强度点的斜率值K_i，将斜率值以其对应的输出数值序号i从小到大作为排列顺序进行排序得到对应的斜率数组；设定斜率数组中斜率值最大值与最小值间数据个数的最小阈值M；

b.遍历上一步骤所得的斜率数组找出斜率值的最大值和最小值，根据斜率值的最大值、最小值找到其对应的荧光强度数据点对应的输出数值序号，分别记为i_min、i_max；

c.计算i_min、i_max之间的数据个数N＝|i_max-i_min|+1；