[发明专利]红外探测器盲元实时检测与消除方法

说明书

本发明揭示了红外探测器盲元实时检测与消除方法，实时检测红外成像器焦平面的盲元点，采用中值滤波方式将盲元点的响应值替换为滤波后的响应值。电路系统每隔一段时间进行一次打挡片操作；依次对每个像元点的像素值进行相加，时序内除以像元点数量得到帧均值；采用盲元判断法进行盲元点判断，采用中值滤波的方式，实时生成与原始图像对应的滤波后图像；对盲元点的像素选用中值滤波后的像素值进行输出。本发明采用实时盲元点监测与实时盲元点滤波替换的方式，无需探测器盲元点存储信息即可满足盲元点去除功能。显示画面还原度更高，节省大量地时间和精力，有利于烧制软件统一，很大程度上提高了产品的设计效率和生产效率。

技术领域

本发明涉及红外探测器盲元实时检测与消除方法，属于红外探测成像的技术领域。

背景技术

制冷型凝视红外焦平面探测器(IRFPA)以其灵敏度高、探测能力强、输出帧频高及图像稳定性好等优点在红外侦察系统、红外导引和跟踪等系统中得到广泛应用，但由于半导体材料的不一致性、制作工艺、多通道读出电路设计不一致性等因素的影响，红外焦平面探测器不可避免的出现诸如非均匀性、盲元等问题，这些问题对正常的红外图像造成了巨大的影响。

红外焦平面阵列(Infrared Focal Plane Arrays，IRFPA)是红外成像系统的关键器件，由于其灵敏度高、探测能力强、输出帧频高及图像稳定性好等优点在红外侦察系统、红外导引和跟踪等系统中得到广泛应用。但由于半导体材料的不一致性、制作工艺、多通道读出电路设计不一致性等因素的影响，红外焦平面探测器不可避免的出现诸如非均匀性、盲元等问题，这些问题对正常的红外图像造成了巨大的影响。

盲元的存在严重影响红外成像的质量，当检测图像中的弱小目标时，可能会出现漏检目标的情况，因此在红外监控系统使用之前要先对其成像系统进行盲元检测。

目前的盲元检测与去除的做法是在使用探测器之前对盲元进行检测，生产盲元map，然后在后续图像处理过程中，对相应的坐标(盲元所在处)的像元进行替换。这样做的话有一定的弊端，首先，由于每个探测器的盲元位置不一样，所以每个探测器的盲元map就不一样，这样会导致批量生产软件状态不同一；其次，由于探测器本身在高温环境和低温环境下的响应是不一致的，所以导致某些盲元点在低温时出现，在高温时是正常的点，反之亦然。在这种情况下又带来两个问题：1、对盲元的检测要兼顾高温环境和低温环境两种场合，这样才能将探测器的盲元点都覆盖到；2、由于有些盲元只在一定温度段出现，在其他温度段是正常工作的，这种情况下，如果全部将这个像元点作为坏点处理，那么会影响这个像元点的正常工作。综上，目前的对盲元的检测和消除方案存在一定的弊端，不利于大规模的红外设备生产，同时对盲元点的检测也比较耗费精力。

发明内容

本发明的目的是解决上述现有技术的不足，针对传统盲元检测和消除方案存在弊端的问题，提出红外探测器盲元实时检测与消除方法。

为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为：

红外探测器盲元实时检测与消除方法，包括：实时检测红外成像器焦平面的盲元点，采用中值滤波方式将盲元点的响应值替换为滤波后的响应值。

优选地，所述清除方法步骤包括：

S1打挡片，电路系统每隔一段时间进行一次打挡片操作；

S2帧均值计算，依次对每个像元点的像素值进行相加，每个时钟进行一次加法操作，再除以像元点数量就得到了帧均值；

S3盲元判断，采用盲元判断法进行盲元点判断，至少包括3σ算法、TMOE算法、像素元响应判断法；

S4盲元位置传递，将步骤S3中盲元点信息传递至缓存；

S5盲元信息获取，读取S4中盲元点信息；

S6中值滤波图像生成，采用中值滤波的方式，实时生成与原始图像对应的滤波后图像；