[发明专利]一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法

权利要求书

1.一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：放置采样；

步骤2：拼接采集低倍图像；

步骤3：标定检测区域；

步骤4：计算采集视场；

步骤5：依次移动采集视场；

步骤6：聚焦校正并自动聚焦；

步骤7：采集并保存图像；

步骤8：人工补充采集。

2.如权利要求1所述的一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法，其特征在于：所述的步骤1包括，将制备好的镶嵌试样放置于载物台中心，通过目镜或计算机中实时显示的显微图像观察，将试样移动到视场中心位置并保持横平竖直。

3.如权利要求1所述的一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法，其特征在于：所述的步骤2包括，在计算机程序中设置采集范围，应涵盖待检测的所有芯块试样，启动采集，程序自动控制显微镜电动物镜转塔切换到低倍物镜，通过标定信息和摄像头分辨率计算得到单个视场覆盖范围，然后按照每个视场重叠至少10％计算得到覆盖采集范围所需的每个视场位置，通过程序控制显微镜电动载物台完成每个视场图像的采集，使用图像拼接算法合成为无缝的覆盖整个采集范围的低倍图像。

4.如权利要求1所述的一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法，其特征在于：所述的步骤3包括，典型的低倍图像包括两个芯块试样，使用图像分割算法提取出芯块试样的轮廓，得到芯块的外切轮廓，再根据检测项目对检测区域的要求，通过平移缩放即得到检测区域的定界框。

5.如权利要求1所述的一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法，其特征在于：所述的步骤4包括，在低倍图像上使用鼠标拖动手动绘制标定检测区域的定界框，根据预设的检测项目所需要横向和纵向视场数量，在定界框内部按照均匀分布的原则计算出每个视场位置，根据检测项目所需的检验倍率和对应的标定信息，按公式(1)计算出每个视场在低倍图像上的等效尺寸，最后将每个视场范围的预览框绘制在低倍图像上，根据预览框的位置、覆盖率调节检测区域及视场数量，确保采集视场的代表性，同一个定界框中可生成不同倍率下的多组采集视场，

式中：W_l：低倍图像上显示的检测视场像素宽度，H_l：低倍路线上的检测视场像素高度，W：图像像素宽度，H：图像像素高度，S_xh，S_yh：图像检测倍率下的X轴和Y轴标定值，S_xl，S_yl：低倍图像的X轴和Y轴标定值。

6.如权利要求1所述的一种铀氧化物陶瓷芯块显微图像批量采集方法，其特征在于：所述的步骤5包括，确认采集视场后即可开始视场的自动采集，程序按照定界框的绘制顺序依次采集，先将物镜切换到预设的采集倍率，遍历每个视场，按照公式(2)将低倍图像中的像素坐标换算为显微镜载物台的物理坐标，控制载物台移动到对应位置。

式中：X_s，Y_s：对应位置的载物台物理坐标，X_i，Y_i：图像中任意点的像素点坐标，S_x，S_y：图像当前倍率下X轴和Y轴的标定值，W：图像像素宽度，H：图像像素高度。