[发明专利]一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法在审

专利信息
申请号: 202011247985.X 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN112485524A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 周仕杰;魏东升;张绮珊;许苏迪;刘灏;毕天姝 申请(专利权)人: 广东电网有限责任公司广州供电局;华北电力大学
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00;G01R23/165
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 史双元
地址: 510620 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 pmu 测试 高精度 校准 器相量 计算方法
【权利要求书】:

1.一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法,其特征在于,包括:

步骤1、设计宽通带的增强DFT滤波器,求得静动态信号的初始相量;

步骤2、基于所述初始相量,识别出带外测试信号和非带外测试信号;

步骤3、用低通滤波器对所述识别出的带外测试信号的初始相量进行滤波;用低通滤波器对相角调制信号的初始相量的幅值和相角分别进行滤波。

2.根据权利要求1所述的一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法,其特征在于,所述步骤1包括:根据加窗DFT计算方法的频谱特性,分析传统DFT计算方法在动态条件下的测量误差,基于测量误差得到DFT滤波器的滤波特性要求,并根据此要求设计出增强DFT滤波器。

3.根据权利要求2所述的一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法,其特征在于,所述DFT滤波器的滤波特性要求为:在45Hz~55Hz通带范围内的增益应接近1,在-55Hz~-45Hz阻带范围内的增益应接近0。

4.根据权利要求2所述的一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法,其特征在于,利用等波纹设计法设计宽通带的增强DFT滤波器的窗系数。

5.根据权利要求1所述的一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法,其特征在于,所述步骤2包括:根据带外测试信号和非带外测试信号的相量频带范围不同的特点,利用FFT分析初始相量得到频谱特性以确定信号类型。

6.根据权利要求5所述的一种用于PMU测试的高精度校准器相量计算方法,其特征在于,所述带外测试信号的相量频带范围为:带外测试信号中间谐波的频带范围小于(50-Fr/2)Hz和大于(50+Fr/2)Hz;非带外测试信号的相量频带范围为:非带外测试信号的最大频率分量为5Hz和Fr/5中的最小值;其中Fr表示上传速率。

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