[发明专利]一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置及粗糙度测量方法

说明书

本发明公开了一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置以及粗糙度测量方法，装置包括框架和测量组件，测量组件与框架之间设置有第一移动组件和第二移动组件，测量组件通过第一移动组件在框架内沿X轴移动，测量组件通过第二移动组件在框架内沿Y轴移动；测量组件包括可沿垂直方向移动的探针和可显示探针移动量的深度表；测量方法通过上述装置实现。本发明在使用时可便捷地将自身调节至与待测表面完全平行的状态，还可实现对待测表面所有位置的连续测量，测量数据实时显示在外界的电子设备上，可选择人工或自动对坐标和粗糙度进行记录，提高了测量效率，得到的数据可完整反映待测表面的粗糙度分布，大大降低了测量误差和人工成本。

技术领域

本发明涉及轨道交通技术领域，具体涉及一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置及板式轨道摊铺层粗糙度测量方法。

背景技术

轨道交通行业的迅速发展，不仅带动了经济的快速提升，同时使得人们生活质量得到了大幅度提高。在轨道工程领域，无砟轨道以高平顺、高稳定和少维修的特点而得到了大规模的应用，因此无砟轨道性能的精细化研究已成为轨道工程领域的重点。

新型无砟轨道结构体系由轨道板、减振垫层和混凝土摊铺层等部件组成。随着板式无砟轨道摊铺层表面粗糙度的增加，在列车荷载作用下，其轨道板所受的表面拉力会逐渐增加，当粗糙度达到一定值时，可能会造成轨道结构受拉破坏。因此在对轨道板摊铺层现场浇筑过程中，需要严格控制摊铺层表面粗糙度，而现有的粗糙度测量装置在使用过程中存在以下问题：

(1)现有测量装置无法完全与待测表面保持平行，给最终测得的粗糙度数据带来不必要的误差；

(2)现有测量装置无法实现连续测量，一般都是通过选取取样点进行随机测量，该种测量方式误差较大，若追求较小的误差需增加取样点的数量，但仍存在一定的随机性，且操纵较为繁琐；

(3)现有测量装置需要人工对坐标点、粗糙度进行手工记录，工作繁琐、测量耗时长，且无法实现测量数据在电脑等设备上的实时显示，不利于数据的后续处理；

(4)现有测量装置在待测表面的移动受到限制，在完成一个点的测量后往往需要将测量探头抬起后再进行移动，操作繁琐，大大降低了测量效率。

因此亟需一种基于摊铺层表面粗糙度测试的板式无砟轨道性能评价方法及测试装置设备，用于精确监控板式无砟轨道摊铺层表面粗糙度，以提高施工质量，并服务于我国轨道交通事业。

发明内容

本发明要解决的技术问题是克服现有技术存在的不足，提供一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置及板式轨道摊铺层粗糙度测量方法，该板式轨道摊铺层粗糙度测量装置可便捷地保持自身与待测表面的平行，还可实现连续测量，测量数据便于处理，可完整反映板式轨道摊铺层的粗糙度，大大提高了测量效率、降低了人工和耗时；该板式轨道摊铺层粗糙度测量方法简单易行，可完整反映板式轨道摊铺层的粗糙度分布。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

一种板式轨道摊铺层粗糙度测量装置，包括框架和测量组件，测量组件与框架之间设置有第一移动组件和第二移动组件，测量组件通过第一移动组件在框架内沿X轴移动，测量组件通过第二移动组件在框架内沿Y轴移动；测量组件包括可沿垂直方向移动的探针和可显示探针移动量的深度表。

上述技术方案的设计思路在于，通过两个移动组件可使测量组件便捷地到达框架内部的任意位置，并可通过测量组件的探针和深度表测量该位置下板式轨道摊铺层的粗糙度，从而获得板式轨道摊铺层的粗糙度分布，并借此评价板式轨道摊铺层的性能参数。