[发明专利]一种静平衡装置在审

专利信息
申请号: 202011183772.5 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112213034A 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 蒋超;曹荣青;华刚;孔元;余雷;查琨;卜岳;王凯 申请(专利权)人: 南京高速齿轮制造有限公司
主分类号: G01M1/16 分类号: G01M1/16
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 胡彬
地址: 211100 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 平衡 装置
【说明书】:

发明涉及旋转工件的静平衡检测技术领域,公开一种静平衡装置,包括:底板;第一轴支撑组件,设置在底板上且包括第一轴支撑座和设置在第一轴支撑座上的两个第一转动组件,两个第一转动组件用于支撑旋转工件的第一转轴;第二轴支撑组件,设置在底板上且第二轴支撑组件与第一轴支撑组件之间的距离可调节,第二轴支撑组件包括第二轴支撑座和设置在第二轴支撑座上的两个第二转动组件,第二轴支撑座在底板上的安装高度可调节,两个第二转动组件之间的距离可调,两个第二转动组件用于支撑旋转工件的第二转轴。本发明公开的静平衡装置能够适用于检测长度不同、第一转轴直径不同及第二转轴直径不同的旋转工件,适用性较现有技术提高。

技术领域

本发明涉及旋转工件的静平衡检测技术领域,尤其涉及一种静平衡装置。

背景技术

对于一端为第一转轴、另一端为第二转轴的旋转工件,检测旋转工件的平衡性能时,需要借助静平衡检测装置,检测不同型号的旋转工件通常需要采用不同的静平衡检测装置。

以旋转工件为行星架为例,行星架大多通过铸造或者焊接加工而成,行星架的两端分别为第一转轴和第二转轴,行星架在齿轮箱内中高速旋转,行星架的平衡状态对齿轮箱运行影响较大,因此,需要对行星架在静平衡装置上做静平衡测试,以检测行星架的精度状态,确保齿轮箱运行平稳性。静平衡装置分别能够支撑第一转轴和第二转轴以使行星架架设在静平衡装置上,且行星架水平放置在静平衡装置上,因此当行星架的长度发生改变、或者第一转轴的直径发生改变、或者第二转轴的直径发生改变时,需要选用不同的静平衡装置检测行星架的静平衡性能,以保证行星架架设在静平衡装置上且行星架呈水平放置。

发明内容

基于以上所述,本发明的目的在于提供一种静平衡装置,能够用于检测不同型号的旋转工件,适用性较现有技术得到提高。

为达上述目的,本发明采用以下技术方案:

一种静平衡装置,包括:底板;第一轴支撑组件,设置在所述底板上且包括第一轴支撑座和设置在所述第一轴支撑座上的两个第一转动组件,两个所述第一转动组件用于支撑旋转工件的第一转轴;第二轴支撑组件,设置在所述底板上且所述第二轴支撑组件与所述第一轴支撑组件之间的距离可调节,所述第二轴支撑组件包括第二轴支撑座和设置在所述第二轴支撑座上的两个第二转动组件,所述第二轴支撑座在所述底板上的安装高度可调节,两个所述第二转动组件之间的距离可调,两个所述第二转动组件用于支撑所述旋转工件的第二转轴。

作为一种静平衡装置的优选方案,所述底板上设有至少两个第一安装孔组,至少两个所述第一安装孔组沿所述旋转工件的轴线方向分布,所述第一轴支撑座可选择地设置在所述第一安装孔组上以使所述第二轴支撑组件与所述第一轴支撑组件之间的距离可调节;和/或,所述底板上设有至少两个第二安装孔组,至少两个所述第二安装孔组沿所述旋转工件的轴线方向分布,所述第二轴支撑组件可选择地设置在所述第二安装孔组上以使所述第二轴支撑组件与所述第一轴支撑组件之间的距离可调节。

作为一种静平衡装置的优选方案,所述第一轴支撑座沿所述旋转工件的轴线方向可滑动地设置在所述底板上,所述底板或者所述第一轴支撑座上设有第一定位件,所述第一定位件用于定位所述第一轴支撑座;和/或,所述第二轴支撑组件沿所述旋转工件的轴线方向可滑动地设置在所述底板上,所述底板或者所述第二轴支撑组件上设有第二定位件,所述第二定位件用于定位所述第二轴支撑组件。

作为一种静平衡装置的优选方案,所述第一轴支撑组件还包括第一盖板,所述第一盖板固定设置在所述第一轴支撑座上且所述第一盖板与所述第一轴支撑座围成第一安装腔,所述第一转动组件包括:第一支撑轴,一端与所述第一轴支撑座抵接,另一端与所述第一盖板抵接;第一轴承,套设在所述第一支撑轴上且位于所述第一安装腔内;第一衬套,套设在所述第一轴承上且用于支撑所述第一转轴,所述第一衬套凸设于所述第一盖板和所述第一轴支撑座。

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