[发明专利]一种适用于微带线接口微波器件电性能测试通用夹具

说明书

本发明涉及一种适用于微带线接口微波器件电性能测试通用夹具，包括底板、支架、测试托块、垂向移动滑台、N个接口转换工装，N与微波器件的微带线接口数量相等；每个接口转换工装包括水平向移动滑台、微带传输线、同轴连接器、工作台面，水平向移动滑台用于控制其上的工作台面能够在水平面沿着直线滑动，微带传输线的中心轴线与工作台面移动的方向平行，射频同轴连接器的中心导体与微带传输线相连。被测微波器件测试时，同时调节垂向移动滑台以及各接口转换工装的水平向移动滑台，使得被测微波器件微带线接口与接口转换工装的微带传输线面接触并且贴合在一起，通过接口转换工装的微带传输线和射频同轴连接器转换为同轴接口方式。

技术领域

本发明涉及一种适用于微带线接口微波器件电性能通用测试夹具，属于分析及测量控制技术领域。

背景技术

本发明公开了一种带线输入输出接口的微波器件通用测试平台，属于微波元器件测量领域。微波器件广泛应用于雷达、通信、电子对抗、航空航天等各种民用、军用设备的微波集成电路中，是微波集成电路中的不可缺少元器件，应用范围广，用量大。

微波器件的输入输出均采用微带线形式，由于其端口的特殊性，无法直接用矢量网络分析仪对其性能参数进行直接测试，需要通过测试工装将带线端口转换为同轴输入端口，连接到矢量网络分析仪的测试电缆进行电性能测试。航天器用微波器件大多属于定制类器件，型号规格多且外形结构和尺寸多样化，在传统测试中往往需要针对每种型号规格的器件单独设计专用的测试工装，甚至每只器件测试都需要一个对应的测试工装来进行测量。航天器用微波器件的性能指标要求高，特别是小插损的微波器件，器件测试过程中需要保持可靠、良好的接地，否则将引入较大的测试误差。

这里以图例方式描述传统的测试托块测试技术，如图1(a)和图1(b) 所示。

如图1(a)可见，测试需要一个测试托块，三个或多个匹配的测试用电连接器；采用紧固螺钉将连接器装配在测试托块上，如图1(b)所示，然后连接矢量网络分析仪测试其电性能。其缺点：需要量身定制专用测试托块，针对性强、成本高、重复利用率低且易划伤带线镀层。

发明内容

本发明解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种适用于微带线接口微波器件电性能通用测试夹具，可以根据微波器件的尺寸大小、端口位置在X、Y、Z方向上进行多自由调节，满足不同的外形结构尺寸的微波器件的电性能通用测试需求。

本发明的技术方案是：一种适用于微带线接口微波器件电性能测试通用夹具，该通用夹具包括底板、支架、测试托块、垂向移动滑台、N个接口转换工装，N与微波器件的微带线接口数量相等；

支架固定安装在底板上，在平行于底板上方构建一个中空平台，共同构建通用测试平台本体，通用测试平台本体坐标系以垂直于底板的轴线为Z轴，平行于底板的中空平台上表面为XOY平面；

垂向移动滑台位于底板中部，垂向移动滑台的上表面能够沿着通用测试平台坐标系Z轴方向滑动；

每个接口转换工装包括水平向移动滑台、微带传输线、同轴连接器、工作台面，水平向移动滑台位于中空平台上表面，用于控制其上的工作台面能够在水平面沿着直线滑动，微带传输线焊接在工作台面，微带传输线的中心轴线与工作台面移动的方向平行，射频同轴连接器固定连接至工作台面，射频同轴连接器的中心导体与微带传输线相连，实现微带微带线转同轴的输出方式；

N个的接口转换工装相对位置关系，与对准被测微波器件微带线接口相对位置关系一致，接口转换工装的微带传输线的中心轴线对准被测微波器件微带线接口中心轴线，即：水平向移动滑台微带传输线的中心轴线与被测微波器件微带线接口中心轴线平行，两者构成的平面垂直于XOY平面；通过调节水平向移动滑台能够调节各个接口转换工装微带传输线之间水平方向的间距；

测试托块固定安装在垂向移动滑台上，用以在测试时托住被测微波器件底部，通过调节垂向移动滑台可满足被测微波器件微带线到接口底面的距离；