[发明专利]一种有机光电器件的弱光检测系统及控制方法

权利要求书

1.一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，包括：

四维调节样品台，用于安放待检测的发光电器件，且控制所述发光电器件在三维中间中移动，所述四维调节样品台可围绕第一法线做旋转运动，所述第一法线为位于所述四维调节样品台中心点处的法线；

准直模块，包括长焦镜头、半反半透镜、图像采集装置、光纤接口，所述长焦镜头对准所述四维调节样品台，所述半反半透镜位于所述长焦镜头和所述图像采集装置之间，所述光纤接口与光纤的输入端连接，所述准直模块可围绕第二法线做旋转运动，所述第二法线与所述第一法线垂直；

光谱仪，所述光谱仪与所述光纤的输出端连接；

所述弱光检测系统还包括底座，所述四维调节样品台安装在所述底座上，所述底座上设有可旋转移动的旋转操纵杆，所述准直模块固定在所述旋转操纵杆上；

所述弱光检测系统还包括样品激发模块，所述样品激发模块包括紫外光源、超快脉冲电源和半导体分析仪；

所述半导体分析仪的探针与所述发光电器件的电极接触，且所述探针不遮挡所述发光电器件发出的光线。

2.根据权利要求1所述的一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，所述半反半透镜将通过所述长焦镜头的光以1:1的比例分为透射部分和反射部分，所述透射部分进入所述图像采集装置，所述反射部分耦合进入所述光纤的输入端。

3.根据权利要求1所述的一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，所述光纤的输出端的内芯一字排开。

4.根据权利要求1所述的一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，所述弱光检测系统还包括手套箱，所述四维调节样品台安装在所述手套箱内。

5.根据权利要求4所述的一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，所述弱光检测系统还包括变温系统，所述变温系统包括设置在所述手套箱内的冷却单元和加热单元，所述冷却单元用于吹扫低温气流，所述低温气流包括氮气流或氦气流的至少之一。

6.根据权利要求5所述的一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，所述变温系统用于控制所述发光电器件的温度，且温度控制范围为77K-300K。

7.一种有机光电器件的弱光检测的控制方法，应用于如权利要求1-6任一项所述的一种有机光电器件的弱光检测系统，其特征在于，包括以下步骤：

将发光电器件放置于四维调节样品台后，调节四维调节样品台的空间位置，以使长焦镜头对准所述发光电器；

通过调节所述四维调节样品台的旋转角度及准直模块的旋转角度，以使所述长焦镜头对准所述发光电器的线发光区域，从而采集所述发光电器的弱光。