[发明专利]一种用于工业检测的双频相控阵超声探头在审
| 申请号： | 202011173769.5 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN112433008A | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 周昌智;黄凯华;刘思明;代雪佳;赵德斌;黄斐;易一平 | 申请（专利权）人： | 上海船舶工程质量检测有限公司;上海船舶工艺研究所(中国船舶工业集团公司第十一研究所) |
| 主分类号： | G01N29/24 | 分类号： | G01N29/24 |
| 代理公司： | 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 | 代理人： | 王佳妮 |
| 地址： | 200032 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 工业 检测 双频 相控阵 超声 探头 | ||
1.一种用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，包括高频晶片阵元、低频晶片阵元、隔声层、外壳、线缆、连接器；所述高频晶片阵元、低频晶片阵元、隔声层封装于外壳内，高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元排列方式为线性阵列或二维阵列，所述隔声层将高频晶片阵元和低频晶片阵元分隔开，并且其分隔面垂直于高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元面，所述高频晶片阵元和低频晶片阵元分别通过线缆与连接器连接。
2.根据权利要求1所述的用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，所述外壳呈长方体状。
3.根据权利要求2所述的用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，当所述高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元排列方式为线性阵列时，高频晶片阵元和低频晶片阵元的宽度方向与外壳的宽度方向一致。
4.根据权利要求2所述的用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，当所述高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元排列方式为线性阵列时，高频晶片阵元和低频晶片阵元的宽度方向与外壳的长度方向一致。
5.根据权利要求1所述的用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，所述高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元数均不低于8个。
6.根据权利要求1所述的用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，所述高频晶片阵元的中心频率高于低频晶片阵元的中心频率。
7.根据权利要求1所述的用于工业检测的双频相控阵超声探头，其特征在于，所述高频晶片阵元的高频晶片的标称频率为低频晶片阵元的低频晶片的标称频率的整数倍。
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