[发明专利]一种校弧装置及校弧方法

权利要求书

1.一种校弧装置，用于校准活动段框架(100)，所述活动段框架(100)包括侧面面板(101)和夹持辊(102)，在所述侧面面板(101)上间隔设置有多个所述夹持辊(102)，且所述夹持辊(102)相对于所述侧面面板(101)的固定位置可调，其特征在于，包括：

工作平台(2)，其用于承载所述侧面面板(101)；

平齐基准件(1)，其设置于所述工作平台(2)上并罩设于所述夹持辊(102)的上方，使得各所述夹持辊(102)的顶部均能够抵接于所述平齐基准件(1)的内壁；

还包括：校弧尺(300)，其用于设置在两个相对设置的所述侧面面板(101)之间；测量治具(200)，用于测量每个所述侧面面板(101)中位于最外侧的所述夹持辊(102)与所述校弧尺(300)之间的第一间隙(400)，使所有第一间隙(400)相同。

2.根据权利要求1所述的校弧装置，其特征在于，所述平齐基准件(1)包括：

框架(12)，其设置于所述工作平台(2)上，两个所述框架(12)平行正对设置；

基准板(11)，其两端分别连接于两个所述框架(12)，所述基准板(11)能够抵接于所述夹持辊(102)的顶部。

3.根据权利要求2所述的校弧装置，其特征在于，所述框架(12)为U型结构。

4.根据权利要求1所述的校弧装置，其特征在于，所述测量治具(200)包括第一测量工具(202)和间隙检查件(201)，所述第一测量工具(202)的一侧面能够抵接于所述校弧尺(300)，所述间隙检查件(201)能够插入所述第一测量工具(202)的另一侧面和所述夹持辊(102)的外周面之间，以检查所述第一测量工具(202)与所述夹持辊(102)之间的第二间隙(401)。

5.根据权利要求4所述的校弧装置，其特征在于，所述间隙检查件(201)为塞尺。

6.一种校弧方法，使用如权利要求1-5任意一项所述的校弧装置对活动段框架(100)进行校准，所述活动段框架(100)包括侧面面板(101)、外弧面板、内弧面板以及夹持辊(102)，所述侧面面板(101)上间隔设置有多个所述夹持辊(102)，其特征在于，包括以下步骤：

S1、将所述侧面面板(101)放置在所述工作平台(2)，使设置于所述工作平台(2)上的所述平齐基准件(1)罩在所述夹持辊(102)的上方，调整所述夹持辊(102)，使得各所述夹持辊(102)的顶部均能够抵接于所述平齐基准件(1)的内壁；

S2、将所述侧面面板(101)分别与所述外弧面板和所述内弧面板连接。

7.根据权利要求6所述的校弧方法，其特征在于，所述平齐基准件(1)包括基准板(11)和框架(12)，在步骤S1中，将所述平齐基准件(1)罩在所述夹持辊(102)上方，使所述框架(12)设置于所述工作平台(2)上，所述基准板(11)抵接于所述夹持辊(102)的顶部。

8.根据权利要求6所述的校弧方法，其特征在于，所述的校弧装置还包括校弧尺(300)和测量治具(200)，在步骤S2之后，还包括：

S21、将所述校弧尺(300)放在两个相对设置的所述侧面面板(101)之间；

S22、将所述测量治具(200)放在所述夹持辊(102)与所述校弧尺(300)之间，使每个所述侧面面板(101)中位于最外侧的所述夹持辊(102)与所述校弧尺(300)之间的第一间隙(400)相同。

9.根据权利要求8所述的校弧方法，其特征在于，所述侧面面板(101)通过面板安装件(500)分别连接于所述内弧面板和所述外弧面板，所述测量治具(200)包括第一测量工具(202)和间隙检查件(201)，将所述第一测量工具(202)放在所述夹持辊(102)与所述校弧尺(300)之间，并使所述第一测量工具(202)的一个侧面能够抵接于所述校弧尺(300)，通过调整所述面板安装件(500)与所述侧面面板(101)之间的垫片，使所述间隙检查件(201)能够插入所述第一测量工具(202)的另一个侧面和所述夹持辊(102)的外周面之间。