[发明专利]复合引脚驱动器

说明书

本公开涉及复合引脚驱动器。测试系统可以使用第一和第二不同的驱动器级来向被测设备(DUT)提供测试信号。复合级可以接收来自驱动器级的信号，并通过增益电路将电压输出信号提供给DUT。复合级可以包括配置为基于来自第一驱动器级的第一输出信号提供电压输出信号的第一部分的缓冲电路，并且复合级可以包括配置为提供电压第二部分的跨阻电路基于来自第二驱动器级的第二输出信号的输出信号。在一个示例中，增益电路可以接收包括电压输出信号的第一部分和第二部分的叠加信号，并且作为响应，向DUT提供测试信号。

背景技术

用于电子设备测试的测试系统可以包括引脚驱动器电路，该引脚驱动器电路向被测设备(DUT)提供电压测试脉冲。作为响应，测试系统可以配置为测量来自DUT的响应，例如确定DUT是否满足一个或多个指定的操作参数。测试系统可以可选地包括多个驱动器电路，例如AB类驱动器电路和A类驱动器电路，以提供具有不同幅度或定时特性的电路测试信号。在一个示例中，测试系统被配置为使用有源负载和比较器电路来感测DUT引脚上的跳变，以测量来自DUT的响应。

用于测试数字集成电路(IC)的系统可以包括配置为向DUT提供多个电压电平(例如Vhigh、Vlow和Vterm)的驱动器电路。DUT可以显示双向(I/O)功能，因为它既可以发出信号，也可以接收信号。驱动器电路的Vhigh和Vlow电平用于在处于“输入”状态时激励DUT，而Vterm则充当处于“输出”状态的DUT的终端。可以将Vhigh、Vlow和Vterm之间的切换过程概念化为三个开关的集合，每个开关的一个端子连接到Vhigh、Vlow或Vterm，另一个端子连接到一个公共的50欧姆电阻，该电阻又被连接到DUT节点。这样，可以通过打开和关闭适当的开关来实现三个级别之间的转换，例如在任何给定时间仅关闭一个开关。

ATE测试系统的一个功能是能够将精确定时的Vhigh、Vlow和Vterm信号或转换信号传送到DUT。对于测试系统而言，提供基本恒定的传播延迟和可预测的信号边缘位置(与温度、频率、占空比、脉冲宽度或测试矢量历史记录等变量无关)可能至关重要，这些变量可能会损害测试系统的功效。

发明内容

本发明人已经认识到，要解决的问题包括，提供一种测试信号发生器系统，该系统相对较小、生产成本低、比传统系统消耗的功率少、或者相对于传统系统提供更高的保真度。例如，问题可以包括提供具有改善的脉冲沿放置精度或改善的带宽特性的测试信号发生器。

在示例中，针对这些和其他问题的解决方案可以包括具有复合级的驱动器系统。复合级可以容纳大范围的电压和电流输入和输出信号，并可以以更高的精度支持高带宽信号。在示例中，复合级可以包括可以接收电压信号的第一输入并且可以包括可以接收电流信号的第二输入，并且可以基于接收到的电压和电流信号的组合来提供复合输出信号。在一个示例中，包括复合级的测试系统可以具有与AB类驱动器相似的功率处理特性，并且可以具有与A类驱动器相似的带宽特性。

在一个示例中，复合级提供了高阻抗环境，因此前端开关或驱动器电路中使用的设备可以比传统A类开关电路中使用的设备小许多倍。此外，由于可以在复合级的高阻抗环境中执行开关操作，因此前端开关电流信号可以比传统A类开关电路中使用的电流信号小很多倍。

在一个示例中，复合级还可以帮助将前端驱动器或开关级与DUT隔离。与传统的驱动器布置相比，通过改善隔离度，可以减少寄生负载影响，并可以改善带宽。因此，可以使用较小或较少的电容消除装置，或者可以完全省略。

该概述旨在提供本专利申请的主题的概述。并不旨在提供本发明的排他性或详尽的解释。包括详细描述以提供关于本专利申请的更多信息。

附图说明

为了容易地识别对任何特定元素或动作的讨论，参考数字中的最高有效数字指的是首次引入该元素的附图编号。

图1总体上示出了包括多个驱动器电路的测试系统拓扑的示例。

图2总体上示出了包括复合级和多个驱动器电路的测试系统拓扑的示例。