[发明专利]检测装置及检测方法

说明书

本申请公开了一种检测方法和检测装置，能够获得待检测装置表面上采样区域中多个采样点的空间位置参数，可以基于少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数，其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。本申请技术方案可以用于确定折叠屏折叠部分的高度差和坡度变化程度。

技术领域

本申请装置表面平整度检测技术领域，更具体的说，涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

装置表面高度差和坡度变化程度能够表征装置表面平整程度的平面参数，所述平面参数是表征装置性能的一个重要参数。在柔性显示屏领域，由于柔性显示屏经过多次弯曲形变后，其弯折区域存在不能展平的高低起伏区域，平整度较差，柔性显示屏的平面参数不仅影响图像显示效果，还影响用户触摸感受和视觉感受。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种检测方法和检测装置，方案如下：

一种检测方法，包括：

获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数；

基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数；

其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。

优选的，在上述检测方法中，所述待检测装置为显示装置，所述显示装置包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；

获得待测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数包括：在第一姿态下，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数；

其中，所述第一姿态是所述显示装置满足平面条件的姿态。

优选的，在上述检测方法中，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数包括：

按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件；多条所述扫描线满足平行条件设置，且具有预设间距；

确定所述采样区域的平面参数包括：

计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；

从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。

优选的，在上述检测方法中，从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度包括：

确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述采样区域的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述采样区域的坡度变化程度。

优选的，在上述检测方法中，所述扫描方式至少满足如下条件之一：

扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；

所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；

所述扫描线等间距设置；

最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离为1mm。

优选的，在上述检测方法中，计算所述扫描线的高度差的方法包括：计算所述扫描线中最高点和最低点的高度差；通过所述最高点和所述最低点的高度差表征所述扫描线的高度差；