[发明专利]一种实时检测输出电压的方法及电路在审
申请号: | 202011087471.2 | 申请日: | 2020-10-12 |
公开(公告)号: | CN112165265A | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 闫志光 | 申请(专利权)人: | 美芯晟科技(北京)有限公司 |
主分类号: | H02M7/06 | 分类号: | H02M7/06;G01R19/04;G01R19/00;G01R19/165 |
代理公司: | 北京一枝笔知识产权代理事务所(普通合伙) 11791 | 代理人: | 张庆瑞 |
地址: | 100000 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实时 检测 输出 电压 方法 电路 | ||
1.一种实时检测输出电压的方法,其特征在于,具体步骤包括:
获取每个周期去磁阶段的芯片电压VCC,当芯片电压VCC高于参考电压时,对芯片电压VCC放电,以保证下一周期去磁阶段芯片电压VCC峰值与输出电压Vout相关;
获取每个周期去磁阶段芯片电压VCC的电压值峰值;
根据所述芯片电压VCC的电压值峰值,获取输出电压Vout。
2.根据权利要求1所述的一种实时检测输出电压的方法,其特征在于,所述获取每个周期去磁阶段的芯片电压VCC的步骤包括:
通过分压电路获取芯片电压VCC,其中分压电压VFB=βVCC。
3.根据权利要求2所述的一种实时检测输出电压的方法,其特征在于,所述参考电压为预设值,或者所述参考电压Vref为在每个去磁阶段开始时芯片工作电压VCC的初始值。
4.根据权利要求1所述的一种实时检测输出电压的方法,其特征在于,所述获取每个周期内去磁阶段芯片电压VCC的电压值峰值的步骤包括:采样去磁阶段预设时间段内多个芯片电压VCC,取最高值。
5.根据权利要求1所述的一种实时检测输出电压的方法,其特征在于,当相邻周期芯片电压VCC在去磁阶段内的电压值峰值相等时,视为系统进入稳态,此时芯片电压VCC的电压值峰值与输出电压Vout相等。
6.一种实时检测输出电压的电路,其特征在于,包括放电电路,所述放电电路根据权利要求1-5任一权利要求所述的方法控制控制器的电压。
7.根据权利要求6所述的一种实时检测输出电压的电路,其特征在于,所述放电电路包括比较器,所述比较器输入端分别接入参考电压和VCC采样电压,所述比较器的输出端与开关单元连接,所述比较器输出的信号控制所述开关单元运作。
8.根据权利要求7所述的一种实时检测输出电压的电路,其特征在于,所述开关单元为MOS管,所述MOS管的栅极与所述比较器连接,源极通过电阻R1与所述控制器电源VCC连接,漏级接地。
9.根据权利要求7所述的一种实时检测输出电压的电路,其特征在于,所述放电电路还包括VCC电压采样电路,所述VCC电压采样电路包括串联的电阻R2、电阻R3,所述电阻R2一端与所述控制器电源VCC电连接,另一端接入所述比较器输入端;所述电阻R3的一端与所述电阻R2连接,另一端接地。
10.根据权利要求9所述的一种实时检测输出电压的电路,其特征在于,所述参考电压通过采样保持模块采样,所述采样保持模块一端连接所述VCC电压采样电路,获取去磁周期阶段开始时电压,另一端连接所述比较器输入端,所述采样保持模块向所述比较器输入参考电压。
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