[发明专利]测试用例集的优化处理方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测试用例集的优化处理方法，其特征在于，包括：

获取待测试文件，所述待测试文件包括至少一条待测试语句；

根据预设映射方式，对所述待测试文件中的所述待测试语句进行映射，获取映射后的所述待测试语句；

根据初始测试用例集和所述映射后的待测试文件，确定覆盖率文件，所述覆盖率文件包括多个覆盖率参数，所述覆盖率参数用于指示每个初始测试用例覆盖的待测试文件以及待测试语句；

根据所述覆盖率文件对所述初始测试用例集进行过滤，确定目标测试用例集。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设映射方式，对所述待测试文件中的所述待测试语句进行映射，获取映射后的所述待测试语句，包括：

根据第一预设映射方式，对所述待测试文件进行映射，获取映射后的待测试文件；

根据第二预设映射方式和所述映射后的待测试文件，对所述待测试文件中的所述待测试语句进行映射，获取映射后的所述待测试语句。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述覆盖率文件对所述初始测试用例集进行过滤，确定目标测试用例集，包括：

根据所述覆盖率文件，获取所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数；

根据所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数，对所述初始测试用例集进行过滤，获取过滤后的初始测试用例集作为所述目标测试用例集。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数，对所述初始测试用例集进行过滤，获取过滤后的初始测试用例集作为所述目标测试用例集，包括：

若确定所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数达到预设条件，则滤除其中任一所述初始测试用例，直至所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数不满足所述预设条件，获取所述目标测试用例集。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数达到预设条件，包括：

计算所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数之间的相似度参数；

若所述相似度参数满足预设阈值，则确定所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数达到预设条件。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数达到预设条件，包括：

计算所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数之间的差集；

若所述差集为空集，则确定所述初始测试用例集中任意两个所述初始测试用例的覆盖率参数达到预设条件。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据初始测试用例集和所述映射后的待测试文件，确定覆盖率文件，包括：

基于所述映射后的待测试文件，运行所述初始测试用例集中的每个所述初始测试用例，获取运行结果；

根据所述运行结果，确定所述覆盖率文件。

8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若根据所述覆盖率文件，确定所述待测试文件中存在至少一条所述待测试语句未覆盖，则增加新的测试用例，所述新的测试用例用于覆盖所述初始测试用例集未覆盖的待测试语句；

根据所述新的测试用例和所述目标测试用例集，更新所述目标测试用例集。