[发明专利]一种新型探针内部连接结构

说明书

本发明提供一种新型探针内部连接结构，涉及探针技术领域，该一种新型探针内部连接结构，包括导筒和电路板，电路板位于导筒的正下方，导筒的内壁设置有连接装置，连接装置包括连接座，连接座插入导筒中并与其内壁螺纹连接，连接座的下端固定连接有导杆，导筒的内壁滑动连接有滑块，滑块的上端固定连接有顶杆，导筒的上端开设有滑孔。在使用时，被检测芯片的金属触点与顶杆相抵，顶杆受芯片压力被挤压进导筒中，顶杆带动滑块和定位块位移，滑块和定位块随之对稳定弹簧进行挤压，稳定弹簧受力变形产生弹力，稳定弹簧在变形过程中通过定位杆推动滑块，使滑块产生偏移，顶杆与导筒的内壁相抵，使得导筒通过顶杆与芯片相连通。

技术领域

本发明涉及探针技术领域，具体为一种新型探针内部连接结构。

背景技术

我们知道，探针是一种应用于消费电子产品、通讯、汽车、医疗、航空航天、军工等领域中精密连接器内的核心部件，通过该探针去实现精密连接器与外部电子元件之间的电性连接，从而发挥精密连接器的正常功能，探针一般包含有针轴、针管及弹簧，针轴套于针管并相对针管具有初始位置及沿针轴的轴向向后滑移的压缩位置，弹簧收于针管内并抵触于针轴及针管之间，以使得针轴能相对针管做伸缩滑移，且针轴在弹簧的作用下滑移至初始位置；故在针轴与外部电子元件电性连接的过程中，针轴被外部电子元件顶推而由初始位置滑移至压缩位置以实现两者电性连接的目的，但现有大多探针设备内部与弹簧的连接端多为锥形，使用过程中易产生偏摆，使滑块与导筒间不能稳定接触，从而影响设备检测芯片时的准确度。

本发明主要解决的就是大多探针设备在使用过程中易出现探针偏摆，影响检查结果的问题。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种新型探针内部连接结构，解决了大多探针设备在使用过程中易出现探针偏摆，影响检查结果的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种新型探针内部连接结构，包括导筒和电路板，所述电路板位于导筒的正下方，所述导筒的内壁设置有连接装置，所述连接装置包括连接座，所述连接座插入导筒中并与其内壁螺纹连接，所述连接座的下端固定连接有导杆，所述导筒的内壁滑动连接有滑块，所述滑块的上端固定连接有顶杆，所述导筒的上端开设有滑孔，所述顶杆贯穿滑孔并与其内壁滑动连接。

优选的，所述导筒的内壁设置有稳定装置，所述稳定装置包括稳定弹簧，所述稳定弹簧位于导筒中，所述连接座的上端固定连接有限位杆，所述稳定弹簧套设在限位杆上，所述稳定弹簧的内壁与限位杆的表面相抵，所述滑块的下端固定连接有定位杆，所述稳定弹簧套设在定位杆上，所述稳定弹簧的内壁与定位杆的表面相抵。

优选的，所述电路板的上端开设有限位孔，所述导杆贯穿限位孔并与其内壁滑动连接，所述电路板的上端设置有两个对称设置的定位装置。

优选的，所述稳定弹簧的表面采用砂纸打磨处理，所述稳定弹簧自下而上直径逐渐减小。

优选的，所述定位装置包括限位杆，所述限位杆位于电路板的上端固定连接，所述导筒的表面固定连接有定位套，所述连接座的表面固定连接有限位套，所述定位杆依次贯穿限位套和定位套。

优选的，所述顶杆的表面与导筒的内壁相抵，所述滑块的上端与导筒的内顶壁相抵。