[发明专利]测试触控显示面板的方法

说明书

本发明公开了一种测试触控显示面板的方法，包含：将显示画面的图框分为第一子图框和第二子图框；在所述第一子图框期间，对所述子像素的一部分子像素的每一个写入对应的正极性或负极性的像素数据，其中所述部分子像素中写入所述正极性的像素数据的个数减去写入所述负极性的像素数据的个数为第一极性数差；以及在所述第二子图框期间，对所述子像素的另一部分子像素的每一个写入对应的正极性或负极性的像素数据，其中所述另一部分子像素中写入所述正极性的像素数据的个数减去写入所述负极性的像素数据的个数为第二极性数差，且所述第一极性数差和所述第二极性数差的总和为0。本发明可避免进行显示测试时产生例如百叶窗现象等的画面显示问题。

技术领域

本发明是有关于显示面板的测试，且特别是指一种测试触控显示面板的方法。

背景技术

随着显示科技及面板生产技术的演进，平面型显示面板现今已应用在各种类型的电子产品上。举凡智能型手机、平板电脑、膝上型电脑、或是监视器等，均具有平面型显示面板。进一步地，还可将触控感测技术应用在平面型显示面板的生产上，使得平面型显示面板还具备触控操作功能，使用户在操作上更为便利。在目前用于显示装置的主要触控技术中，内嵌式(in-cell)触控技术是将触控感测电极的制作整合在显示面板的工艺中，且公共电极亦设置为用于触控感测。在内嵌式触控显示面板的生产过程中，在组装电路板和芯片前，通常会先进行影像显示测试，确认显示画面的正确性，若有问题可即时对像素结构进行检测及修补。然而，触控感测电极上的公共电压会受到像素电极的极性影响而偏移，故在对触控显示面板进行纯色图像显示测试时，可能会因为公共电压信号电平的不均匀而造成画面显示问题的产生，例如百叶窗现象等。虽然可通过同时开启扫描信号以解决上述画面显示问题，但此方法无法用于检测阵列基板行驱动电路(Gate Driver on Array；GOA)的功能，故有造成产品问题漏检而误放的风险。

发明内容

本发明的目的在于提出一种测试触控显示面板的方法，其可使触控显示面板的每个触控感测电极在每个图框期间所对应的正极性子像素个数与负极性子像素个数相等，故可使写入至各触控感测电极的公共电压信号电平一致，避免在对触控显示面板进行纯色图像显示测试时，因公共电压信号电平的不均匀而造成画面显示问题的产生，例如百叶窗现象等，进而提升测试的准确性。

本发明的一方面是在于提供一种用以测试触控显示面板的方法，触控显示面板包含基板、多个触控感测电极和多个子像素，多个触控感测电极和多个子像素设置于基板上，多个触控感测电极的每一个在垂直基板的方向上重叠多个子像素中对应的M个子像素的区域，M为大于或等于2的正整数，方法包含：将显示画面的一个图框分个为多个子图框，多个子图框包含第一子图框和第二子图框；在第一子图框期间，对M个子像素的一部分子像素的每一个写入对应的正极性或负极性的像素数据，其中部分子像素中写入正极性的像素数据的个数减去写入负极性的像素数据的个数为第一极性数差；以及在第二子图框期间，对M个子像素的另一部分子像素的每一个写入对应的正极性或负极性的像素数据，其中另一部分子像素中写入正极性的像素数据的个数减去写入负极性的像素数据的个数为第二极性数差；其中，第一极性数差和第二极性数差的总和为0。

依据本发明的一些实施例，M个子像素的部分子像素的个数为M/2个，且M个子像素的另一部分子像素的个数为M/2个。

依据本发明的一些实施例，触控显示面板还包含多条扫描线，多条扫描线中的奇数条扫描线于第一子图框中致能，多条扫描线中的偶数条扫描线于第二子图框中致能。

依据本发明的一些实施例，M个子像素包含多个第一子像素，多个第一子像素的每一个用于显示第一颜色，其中多个第一子像素的一部分的每一个于第一子图框写入对应的正极性的像素数据，多个第一子像素的另一部分的每一个于第二子图框写入对应的负极性的像素数据。

依据本发明的一些实施例，M个子像素包含X个第一子像素，X为小于或等于M的正整数，X个第一子像素的部分的个数为X/2个，多个第一子像素的另一部分的个数为X/2个。